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    Gamma-ray radiation and annealing effects on colour CMOS image sensors
    MENG, Xiang-Ti ; KANG, Ai-Guo ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 1, S. L1- (3S.)
    Online academicJournal
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    Evaluation of strained Si/SiGe material for high performance CMOS
    OLSEN, S. H ; O'NEILL, A. G ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 19 (2004), Heft 6, S. 707-714
    Online academicJournal
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    Efficient premature edge breakdown prevention in SiAPD fabrication using the standard CMOS process
    KAMRANI, Ehsan ; LESAGE, Frederic ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 28 (2013), Heft 4
    Online academicJournal
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    Integrated circuit process control monitoring (PCM) data and wafer yield analysed by using synchrotron x-ray topographic measurements
    KARILAHTI, M ; TUOMI, T ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 1, S. 45-55
    Online academicJournal
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    Si/SiGe heterostructures: from material and physics to devices and circuits
    PAUL, Douglas J
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 19 (2004), Heft 10, S. R75- (34S.)
    Online academicJournal
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    Structure and stability of Pr2O3/Si(0 01) heterostructures grown by molecular beam epitaxy using a high temperature effusion source
    TINKHAM, B. P ; TAKAHASI, M ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 21 (2006), Heft 12, S. 1552-1556
    Online academicJournal
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    Capacitive measurements for a novel ECIS (electrolyte-carbon nanotubes-insulator-semiconductor) structure
    QING, LIN ; JUN HO, CHEON ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 21 (2006), Heft 5, S. 686-690
    Online academicJournal
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    Performance enhancement in Si/Si0.5Ge0.5/Si strained alloy p-channel metal oxide semiconductor field effect transistors
    LEADLEY, D. R ; FISCHER, H ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 11, S. 945-949
    Online academicJournal
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    Direct measurement of residual stress in sub-micron interconnects
    HORSFALL, A. B ; DOS SANTOS, J. M. M ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 11, S. 992-996
    Online academicJournal
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    Ferromagnetic Mn5Ge3C0.8 contacts on Ge: work function and specific contact resistivity
    FISCHER, I. A ; GEBAUER, J ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 28 (2013), Heft 12
    Online academicJournal
    Zugriff:
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