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942 Treffer

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    CMOS Transistors Based First-Order Voltage-Mode All-Pass Filter with Tunable Transformation Possibility.
    Gupta, Shiv Narain ; Chaturvedi, Bhartendu ; et al.
    In: Journal of Circuits, Systems & Computers, Jg. 31 (2022-11-30), Heft 17, S. 1-16
    academicJournal
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    Challenges for Nanoscale CMOS Logic Based on Two-Dimensional Materials.
    Knobloch, Theresia ; Selberherr, Siegfried ; et al.
    In: Nanomaterials (2079-4991), Jg. 12 (2022-10-15), Heft 20, S. 3548-3566
    Online academicJournal
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    Full Text Finder (Volltext)
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    Low temperature processed, highly stable CMOS inverter by integrating Zn-ON and tellurium thin-film transistors.
    Naqi, Muhammad ; Jang, Seong Cheol ; et al.
    In: Journal of Information Display, Jg. 24 (2023-09-01), Heft 3, S. 199-204
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Integrated Low‐Dimensional Semiconductors for Scalable Low‐power CMOS Logic.
    Chuang, Meng‐Hsi ; Chiu, Kuan‐Chang ; et al.
    In: Advanced Functional Materials, Jg. 33 (2023-07-04), Heft 27, S. 1-9
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    11‐2: A 9 kfps 1411 PPI GaN‐based µLED Display CMOS Backplane.
    Canals, Joan ; Moro, Victor ; et al.
    In: SID Symposium Digest of Technical Papers, Jg. 54 (2023-06-01), Heft 1, S. 125-128
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Combined (Si) and (Ge) FinFET-CMOS Inverter Characterization Based on Driver to Load Transistor Ratio.
    Hashim, Yasir ; Hussein, Safwan Mawlood
    In: Journal of Nano- & Electronic Physics, Jg. 14 (2022-09-01), Heft 5, S. 1-6
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Precise Deposition of Carbon Nanotube Bundles by Inkjet-Printing on a CMOS-Compatible Platform.
    Singh, Rohitkumar Shailendra ; Takagi, Katsuyuki ; et al.
    In: Materials (1996-1944), Jg. 15 (2022-07-15), Heft 14, S. N.PAG- (9S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Biometrics for electronic eyes: system authentication with embedded CMOS image sensor.
    Kim, Seung-Chan ; Lim, Soo-Chul ; et al.
    In: IEEE Transactions on Consumer Electronics, Jg. 62 (2016-08-01), Heft 3, S. 209-215
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Study of Small-signal Model of Simple CMOS Amplifier with Instability Compensation of Positive Feedback Loop.
    Sotner, R. ; Jerabek, J. ; et al.
    In: Measurement Science Review, Jg. 15 (2015-06-01), Heft 3, S. 139-151
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS OTA-Based Filters for Designing Fractional-Order Chaotic Oscillators.
    Alejandro Valencia-Ponce, Martín ; Rubí Castañeda-Aviña, Perla ; et al.
    In: Fractal & Fractional, Jg. 5 (2021-09-01), Heft 3, S. 1-16
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    7‐2: Invited Paper: A 40 nm Gate Length Surrounding Gate Vertical‐Channel FET Using Thermally Stable In‐Al‐Zn‐O Channel for 3D CMOS‐LSI Applications.
    Sato, Yuta ; Fujiwara, Hirokazu ; et al.
    In: SID Symposium Digest of Technical Papers, Jg. 52 (2021-05-01), Heft 1, S. 61-64
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Design Flow for Hybrid CMOS/Memristor Systems—Part I: Modeling and Verification Steps.
    Maheshwari, Sachin ; Stathopoulos, Spyros ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 68 (2021-12-01), Heft 12, S. 4862-4875
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Highly Linear and Efficient CMOS RF Power Amplifier With a 2-D Circuit Synthesis Technique.
    Ding, Miaofu ; Gard, Kevin G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 60 (2012-09-01), Heft 9, S. 2851-2862
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Abnormal On-Current Degradation Under Non-Conductive Stress in Contact Field Plate Lateral Double-Diffused Metal-Oxide- Semiconductor Transistor With 0.13-μm Bipolar-CMOS-DMOS Technology.
    Hung, Wei-Chun ; Tu, Yu-Fa ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-05-01), Heft 5, S. 769-772
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Degradation induced by hot carrier and cold carrier in 65-nm NMOSFETs with enclosed gate and two-edged gate layouts.
    Shen, Jingyu ; Zhang, Ming ; et al.
    In: Micro & Nano Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 13 (2018-08-01), Heft 8, S. 1096-1100
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 0.3-V 37-nW 53-dB SNDR Asynchronous Delta–Sigma Modulator in 0.18- $\mu$ m CMOS.
    Kulej, Tomasz ; Khateb, Fabian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 27 (2019-02-01), Heft 2, S. 316-325
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Digital CircuitMethods to Correct and Filter Noise of Nonlinear CMOS Image Sensors.
    Nascimento, Maikon ; Li, Jing ; et al.
    In: Journal of Imaging Science & Technology, Jg. 62 (2018-11-01), Heft 6, S. 1-14
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    TRENDS IN ESD PROTECTION DESIGN FOR I/O LIBRARIES IN ADVANCED CMOS AND FINFET TECHNOLOGIES.
    SEMENOV, OLEG ; LESKOVA, LYUBOV ; et al.
    In: I-Manager's Journal on Circuits & Systems, Jg. 6 (2018-08-01), Heft 3, S. 1-8
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Simulation of the Characteristics of Double-Gate Asymmetrically Doped SOI CMOS Nanotransistors.
    Masalsky, N. V.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 47 (2018-07-01), Heft 4, S. 259-267
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Temporal Noise Analysis of Charge-Domain Sampling Readout Circuits for CMOS Image Sensors.
    Ge, Xiaoliang ; Theuwissen, Albert J. P.
    In: Sensors (14248220), Jg. 18 (2018-03-01), Heft 3, S. 707-722
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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