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    Biometrics for electronic eyes: system authentication with embedded CMOS image sensor.
    Kim, Seung-Chan ; Lim, Soo-Chul ; et al.
    In: IEEE Transactions on Consumer Electronics, Jg. 62 (2016-08-01), Heft 3, S. 209-215
    Online academicJournal
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    Abnormal On-Current Degradation Under Non-Conductive Stress in Contact Field Plate Lateral Double-Diffused Metal-Oxide- Semiconductor Transistor With 0.13-μm Bipolar-CMOS-DMOS Technology.
    Hung, Wei-Chun ; Tu, Yu-Fa ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-05-01), Heft 5, S. 769-772
    Online academicJournal
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    A Highly Linear and Efficient CMOS RF Power Amplifier With a 2-D Circuit Synthesis Technique.
    Ding, Miaofu ; Gard, Kevin G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 60 (2012-09-01), Heft 9, S. 2851-2862
    Online academicJournal
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    Radiation and High-Voltage Tolerant Space CAN Driver in Standard Low-Voltage 3.3-V CMOS Technology.
    Jansen, R. J. E. ; Lindner, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-08-01), Heft 8 Part 1, S. 2204-2211
    Online academicJournal
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    Volltext
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    A Tileable CMOS X-Ray Line Detector Using Time-Delay-Integration With Pseudomultisampling for Large-Sized Dental X-Ray Imaging Systems.
    Jo, Yun-Rae ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017), Heft 1, S. 211-216
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Single-Resonator Dual-Frequency BEOL-Embedded CMOS-MEMS Oscillator With Low-Power and Ultra-Compact TIA Core.
    Riverola, Martin ; Sobreviela, Guillermo ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-02-01), Heft 2, S. 273-276
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Total Ionizing Dose Hardened and Mitigation Strategies in Deep Submicrometer CMOS and Beyond.
    Chatzikyriakou, Eleni ; Morgan, Katrina ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-03-01), Heft 3, S. 808-819
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Design Flow for Hybrid CMOS/Memristor Systems—Part I: Modeling and Verification Steps.
    Maheshwari, Sachin ; Stathopoulos, Spyros ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 68 (2021-12-01), Heft 12, S. 4862-4875
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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    A 0.3-V 37-nW 53-dB SNDR Asynchronous Delta–Sigma Modulator in 0.18- $\mu$ m CMOS.
    Kulej, Tomasz ; Khateb, Fabian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 27 (2019-02-01), Heft 2, S. 316-325
    Online academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 1.2-V Self-Reconfigurable Recursive Mixer With Improved IF Linearity in 130-nm CMOS.
    Chen, Chao ; Wu, Jianhui
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part II: Express Briefs, Jg. 64 (2017), Heft 1, S. 36-40
    Online academicJournal
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    SET and SEU Analyses Based on Experiments and Multi-Physics Modeling Applied to the ATMEL CMOS Library in 180 and 90-nm Technological Nodes.
    Hubert, G. ; Truyen, D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3178-3186
    Online academicJournal
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    Characterization of 4 K CMOS Devices and Circuits for Hybrid Josephson-CMOS Systems.
    Yoshikawa, N. ; Tomida, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Jg. 15 (2005-06-01), Heft 2, S. 267-271
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Simulation and Design Methodology for Hybrid SET-CMOS Integrated Logic at 22-nm Room-Temperature Operation.
    Parekh, Rutu ; Beaumont, Arnaud ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-04-01), Heft 4, S. 918-923
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Flip-Chip-Assembled W-Band CMOS Chip Modules on Ceramic Integrated Passive Device With Transition Compensation for Millimeter-Wave System-in-Package Integration.
    Lu, Hsin-Chia ; Kuo, Che-Chung ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 60 (2012-03-15), Heft 3, S. 766-777
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Comparative Study of Metamodels for Fast and Accurate Simulation of Nano-CMOS Circuits.
    Garitselov, Oleg ; Mohanty, Saraju P ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 25 (2012-02-01), Heft 1, S. 26-36
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 1-V CMOS SOI Bluetooth RF Transceiver Using LC-Tuned and Transistor-Current-Source Folded Circuits.
    Ugajin, Mamoru ; Yamagishi, Akihiro ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 39 (2004-04-01), Heft 4, S. 569-576
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    Fabrication and Electrical Characterization of Fully CMOS-Compatible Si Single-Electron Devices.
    Koppinen, P. J. ; Stewart, M. D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013), Heft 1, S. 78-83
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Generalization and Reduction of Line-Series-Shunt Calibration for Broadband GaAs and CMOS On-Wafer Scattering Parameter Measurements.
    Huang, Chien-Chang ; Chen, Yu-Chuan
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 60 (2012-12-15), Heft 12, S. 4138-4144
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A Temperature Sensor With an Inaccuracy of -- 1/+0.8 °C Using 90-nm 1-V CMOS for Online Thermal Monitoring of VLSI Circuits.
    Sasaki, Masahiro ; Ikeda, Makoto ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 21 (2008-05-01), Heft 2, S. 201-208
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    CMOS Inverter Based on Gate-All-Around Silicon-Nanowire MOSFETs Fabricated Using Top-Down Approach.
    Rustagi, S. C. ; Singh, N. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 28 (2007-11-01), Heft 11, S. 1021-1024
    Online academicJournal
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