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  1. Antolovic, Ivan Michel ; Burri, Samuel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 57-64
    Online academicJournal
  2. Chung, Meng-Ting ; Lee, Chih-Lin ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 48 (2013-10-01), Heft 10, S. 2522-2530
    Online academicJournal
  3. Velichko, Sergey ; Hynecek, Jaroslav Jerry ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 106-112
    Online academicJournal
  4. Tan, Zhichao ; Daamen, Roel ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 48 (2013-10-01), Heft 10, S. 2469-2477
    Online academicJournal
  5. Shcherbakova, Olga ; Pancheri, Lucio ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 145-152
    Online academicJournal
  6. Koklu, Gozen ; Ghaye, Julien ; et al.
    In: 2012 IEEE International Symposium on Circuits & Systems, 2012, S. 2063-2066
    Konferenz
  7. Njuguna, Raphael ; Gruev, Viktor
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 14 (2014-03-01), Heft 3, S. 710-721
    Online academicJournal
  8. Dattner, Y. ; Yadid-Pecht, O.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 12 (2012-06-01), Heft 6, S. 2172-2179
    Online academicJournal
  9. Liu, Jiun-Chieh ; Hsiung, Yung-Shih ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 12 (2012-05-01), Heft 5, S. 1004-1010
    Online academicJournal
  10. Chen, Chien-Hung ; Liao, Tai-Shan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 61 (2012-08-01), Heft 8, S. 2328-2330
    Online academicJournal
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