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  1. Nie, Kaiming ; Li, Jianxin ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 60 (2016-05-01), S. 70-77
    academicJournal
  2. Huang, Sichong ; Lu, Tiejun ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 124 (2022-06-01), S. N.PAG
    academicJournal
  3. Liang, Z. ; Affolder, A. ; et al.
    In: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A, Jg. 831 (2016-09-21), S. 156-160
    academicJournal
  4. Xu, Jiangtao ; Yin, Zhaoyang ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 46 (2015-12-01), Heft 12, S. 1325-1332
    academicJournal
  5. Lin, Kuo-Feng ; Hsiao, Yu-Kun ; et al.
    In: Optics Communications, Jg. 367 (2016-05-15), S. 254-258
    academicJournal
  6. Igoe, D. P ; Parisi, A.V. ; et al.
    In: Sensors & Actuators A: Physical, Jg. 272 (2018-04-01), S. 125-133
    academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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