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    Probing Dark Current Random Telegraph Signal in a Small Pitch Vertically Pinned Photodiode CMOS Image Sensor After Proton Irradiation.
    Antonsanti, Aubin ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-07-01), Heft 7, S. 1506-1514
    Online academicJournal
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    Signal-to-Noise Ratio Enhancement in Cardiac Pulse Measurements Using Multitap CMOS Image Sensors With In-Pixel Temporal Redundant Samplings.
    Cao, Chen ; Hakamata, Masashi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2851-2857
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Global Shutter Wide Dynamic Range Soft X-Ray CMOS Image Sensor With Backside- Illuminated Pinned Photodiode, Two-Stage Lateral Overflow Integration Capacitor, and Voltage Domain Memory Bank.
    Shike, Hiroya ; Kuroda, Rihito ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), Heft 4, S. 2056-2063
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Ambient Temperature-Induced Device Self-Heating Effects on Multi-Fin Si CMOS Logic Circuit Performance in N-14 to N-7 Scaled Technologies.
    Venkateswarlu, Sankatali ; Nayak, Kaushik
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-04-01), Heft 4, S. 1530-1536
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A Radiation-Hardened CMOS Image Sensor With Pixels Exhibiting a Negligibly Small Dark-Level Increase During Ionizing Radiation.
    Watanabe, Takashi ; Takeuchi, Tomoaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-08-01), Heft 8, S. 1835-1845
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    SIRIO: A High-Speed CMOS Charge-Sensitive Amplifier for High-Energy-Resolution X-γ Ray Spectroscopy With Semiconductor Detectors.
    Mele, Filippo ; Gandola, Massimo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-03-01), Heft 3, S. 379-383
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of X-Ray and Electron Radiation Effects on Dark Current Non-Uniformity and Fluctuations in CMOS Image Sensors.
    Le Roch, Alexandre ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-02-01), Heft 2, S. 268-277
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A 17-to-24 GHz Low-Power Variable-Gain Low-Noise Amplifier in 65-nm CMOS for Phased-Array Receivers.
    Yaghoobi, Majid ; Yavari, Mohammad ; et al.
    In: Circuits, Systems & Signal Processing, Jg. 38 (2019-12-01), Heft 12, S. 5448-5466
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A CMOS compatible thermoelectric device made of crystalline silicon membranes with nanopores.
    Bah, Thierno-Moussa ; Didenko, Stanislav ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 33 (2022-12-10), Heft 50, S. 1-6
    academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    On-Array Compressive Acquisition in CMOS Image Sensors Using Accumulated Spatial Gradients.
    Kaur, Amandeep ; Mishra, Deepak ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems for Video Technology, Jg. 31 (2021-02-01), Heft 2, S. 523-532
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Monolithically Cointegrated Tensile Strained Germanium and In x Ga 1-x As FinFETs for Tunable CMOS Logic.
    Joshi, Rutwik ; Karthikeyan, Sengunthar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4175-4182
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Transient Response in PPD CMOS Image Sensors Irradiated by Gamma Rays: Variation of Dose Rates and Integration Times.
    Wang, Zujun ; Xue, Yuanyuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-06-01), Heft 6, S. 880-885
    Online academicJournal
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    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A High Near-Infrared Sensitivity Over 70-dB SNR CMOS Image Sensor With Lateral Overflow Integration Trench Capacitor.
    Murata, Maasa ; Kuroda, Rihito ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-04-01), Heft 4, S. 1653-1659
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Simulations and performance studies of a MAPS in 65 nm CMOS imaging technology.
    Simancas, Adriana ; Braach, Justus ; et al.
    In: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A, Jg. 1064 (2024-07-01), S. N.PAG
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Si light-emitting device in integrated photonic CMOS ICs.
    Xu, Kaikai ; Snyman, Lukas W. ; et al.
    In: Optical Materials, Jg. 69 (2017-07-01), S. 274-282
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Fabrication and Analysis of Vertical Thin Poly-Si Channel Transfer Gate Pixels for a 3-D CMOS Image Sensor.
    Park, Sung-Kun ; Song, Il-Ho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-07-01), Heft 7, S. 2917-2924
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A monolithically integrated butt-coupled 3D bulk CMOS Si photodetector array with a fiber couplers platform on a single-chip.
    Sabri Alirezaei, Iman ; Vierhaus, Joerg ; et al.
    In: Sensors & Actuators A: Physical, Jg. 266 (2017-10-15), S. 361-367
    academicJournal
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    Evaluation of the Radiation Hardness of Photodiodes in 180-nm CMOS Technology for Medical Applications.
    Segmanovic, Filip ; Meinhardt, Gerald ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 2367-2374
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    An ultra‐linear CMOS image sensor for a high‐accuracy imaging system.
    Teymouri, Masood ; Sobhi, Jafar
    In: International Journal of Circuit Theory & Applications, Jg. 46 (2018-09-01), Heft 9, S. 1593-1605
    Online academicJournal
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    High-Voltage CMOS Active Pixel Sensor Chip With Counting Electronics for Beam Monitoring.
    Weber, Alena ; Ehrler, Felix ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 1288-1298
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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