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    Improvement of Strained Negative Bias Temperature Instability in Flexible LTPS TFTs by a Stress-Release Design.
    Wang, Yu-Xuan ; Chang, Ting-Chang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-03-01), Heft 3, S. 1532-1537
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
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    Suppressing ${V_{\mathrm{TH}}}$ Variations in LTPS Thin-Film Transistors With Current Scaling Ratio Modulation for AMOLED Display.
    Lin, Chih-Lung ; Hsu, Chih-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), Heft 8, S. 3577-3581
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    LTPS Thin-Film Transistors Fabricated Using New Selective Laser Annealing System
    Sugawa, Shigetoshi ; Saito, Kaori ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), S. 3250-3256
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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    The Impact of TiO<subscript>2</subscript> Interface Layer on a Pd/n-LTPS Schottky Diode Hydrogen Detecting Performances.
    Chiang, Yen-Ting ; Fang, Yean-Kuen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 8, S. 2013-2018
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    New Voltage-Programmed AMOLED Pixel Circuit to Compensate for Nonuniform Electrical Characteristics of LTPS TFTs and Voltage Drop in Power Line.
    Lin, Chih-Lung ; Hung, Chia-Che ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-07-01), Heft 7, S. 2454-2458
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    An Empirical Defect-Related Photo Leakage Current Model for LTPS TFTs Based on the Unit Lux Current.
    Tai, Ya-Hsiang ; Kuo, Yan-Fu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-05-01), Heft 5, S. 1015-1022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
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    The Impact of $\hbox{TiO}_{2}$ Interface Layer on a Pd/n-LTPS Schottky Diode Hydrogen Detecting Performances
    Lin, Kung-Cheng ; Chou, Tse-Heng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-08-01), S. 2013-2018
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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    Temperature Coefficient of Poly-Silicon TFT and Its Application on Voltage Reference Circuit With Temperature Compensation in LTPS Process.
    Lu, Ting-Chou ; Zan, Hsiao-Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-10-01), Heft 10, S. 2583-2589
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Enhancing Reliability and 2 mm-Axial Mechanical Bending Endurance by Gate Insulator Improvements in Flexible Polycrystalline Silicon TFTs.
    Zheng, Yu-Zhe ; Chen, Po-Hsun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 2423-2429
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    The Impact of TiO2 Interface Layer on a Pd/n-LTPS Schottky Diode Hydrogen Detecting Performances.
    Chiang, Yen-Ting ; Fang, Yean-Kuen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 8, S. 2013-2026
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Suppression of Edge Effect Induced by Positive Gate Bias Stress in Low-Temperature Polycrystalline Silicon TFTs With Channel Width Extension Over Source/Drain Regions.
    Wang, Yu-Xuan ; Tai, Mao-Chou ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), Heft 12, S. 5552-5556
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Effect of ELA Energy Density on Self-Heating Stress in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors.
    Huang, Shin-Ping ; Chen, Hong-Chih ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), Heft 8, S. 3163-3166
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Si-Based FET-Type Synaptic Device With Short-Term and Long-Term Plasticity Using High- $\kappa$ Gate-Stack.
    Seo, Young-Tak ; Lee, Myoung-Sun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-02-01), Heft 2, S. 917-923
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    An Empirical Defect-Related Photo Leakage Current Model for LTPS TFTs Based on the Unit Lux Current.
    Tai, ya-Hsiang ; Kuo, Yan-Fu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-05-01), Heft 5, S. 1015-1022
    Online academicJournal
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    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Integrating Poly-Silicon and InGaZnO Thin-Film Transistors for CMOS Inverters.
    Chen, Chang ; Dong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-09-01), Heft 9, S. 3668-3671
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Temperature Coefficient of Poly-Silicon TFT and Its Application on Voltage Reference Circuit With Temperature Compensation in LTPS Process.
    Lu, Ting-Chou ; Zan, Hsiao-Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-10-01), Heft 10, S. 2583-2589
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    academicJournal
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Electrical Degradation and Recovery of Low-Temperature Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors With Various Metal Gate Patterns.
    Chang, Jiun-Jye ; Chang-Liao, Kuei-Shu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 12, S. 3543-3548
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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