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  1. Yang, Kai ; Wang, L.C. ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 8-11
    Konferenz
  2. Jheng, Kai-Yuan ; Wu, Tsung-Han ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 49-52
    Konferenz
  3. Sezer, S. ; McLoone, M. ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 75-83
    Konferenz
  4. Huang, Peng-Chuang ; Chiu, B.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 128-131
    Konferenz
  5. Natarajan, S. ; Alvandpour, A.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 222-228
    Konferenz
  6. Lin, Tay-Jyi ; Lee, Chen-Chia ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 337-340
    Konferenz
  7. Bhattacharyya, S. ; Srikanthan, T. ; et al.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 345-348
    Konferenz
  8. Noll, T.G.
    In: 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test,, 2005, S. 28-28
    Konferenz
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