Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
41 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

41 Treffer

Sortierung: 
  1. Lan, Hao-Yu ; Tripathi, Rahul ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
  2. Sato, Yuki ; Murakami, Hiroyuki ; et al.
    In: 2015 4th International Conference on Advancements in Nuclear Instrumentation Measurement Methods and their Applications (ANIMMA), 2015-04-01, S. 1-5
    Konferenz
  3. Bruzzi, M. ; de Sio, A. ; et al.
    In: 2013 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2013 NSS/MIC), 2013-10-01, S. 1-3
    Konferenz
  4. M'Saad, H. ; Desai, S. ; et al.
    In: 2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.00TH8479), 2000, S. 42-45
    Konferenz
  5. Claps, G. ; Murtas, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-10-01), Heft 10, S. 2743-2743
    Online academicJournal
  6. Edwards, A.J. ; Bruinsma, M. ; et al.
    In: IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science, Jg. 2 (2004), S. 729-733
    Konferenz
  7. Schnetzer, S.
    In: 1998 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record. 1998 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (Cat. No.98CH36255), Jg. 1 (1998), S. 125-132
    Konferenz
  8. Engelhardt, M. ; Grassl, T.
    In: 1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (Cat. No.98EX100), 1998, S. 92-95
    Konferenz
  9. Bruzzi, M. ; Bucciolini, M. ; et al.
    In: 2001 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (Cat. No.01CH37310), Jg. 1 (2001), S. 161-163
    Konferenz
  10. Bergonzo, P. ; Foulon, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 45 (1998-06-01), Heft 3, S. 370-373
    Online academicJournal
  11. Stone, R. ; Doroshenko, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 49 (2002-06-01), Heft 3, S. 1059-1062
    Online academicJournal
  12. Vikharev, A.L. ; Gorbachev, A.M. ; et al.
    In: The 33rd IEEE International Conference on Plasma Science, 2006. ICOPS 2006. IEEE Conference Record -, 2006, S. 443-443
    Konferenz
  13. Kim, D.Y. ; Seo, C.K. ; et al.
    In: The 30th International Conference on Plasma Science, 2003. ICOPS 2003. IEEE Conference Record -, 2003, S. 426-426
    Konferenz
  14. Srivastava, A. ; Tan, O.K. ; et al.
    In: IEEE Conference Record - Abstracts. 2002 IEEE International Conference on Plasma Science (Cat. No.02CH37340), 2002, S. 134-134
    Konferenz
  15. Mossbrucker, J. ; Wright, B. ; et al.
    In: 25th Anniversary, IEEE Conference Record - Abstracts. 1998 IEEE International Conference on Plasma Science (Cat. No.98CH36221), 1998, S. 144-144
    Konferenz
  16. Bergonzo, P. ; Foulon, F. ; et al.
    In: 1997 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, Jg. 1 (1997), S. 330-330
    Konferenz
  17. Kim, D.Y. ; Moon, S.I. ; et al.
    In: The 30th International Conference on Plasma Science, 2003. ICOPS 2003. IEEE Conference Record -, 2003, S. 229-229
    Konferenz
  18. Ramos, H.J. ; Malapit, G.M. ; et al.
    In: The 30th International Conference on Plasma Science, 2003. ICOPS 2003. IEEE Conference Record -, 2003, S. 264-264
    Konferenz
  19. Choi, J.K. ; Heo, D. ; et al.
    In: The 30th International Conference on Plasma Science, 2003. ICOPS 2003. IEEE Conference Record -, 2003, S. 425-425
    Konferenz
  20. Mohammadi, V. ; van de Kruijs, R.W.E. ; et al.
    In: 2015 9th International Conference on Sensing Technology (ICST), 2015-12-01, S. 656-660
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -