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    KFM evaluation of seebeck coefficient in thin SOI layers
    Ikeda, Hiroya ; Suzuki, Yuhei ; et al.
    In: 2013 International Conference on QiR, 2013-06-01, S. 35-38
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of grain boundary properties in BaSi2 epitaxial films on Si(111) and Si(001) by Kelvin probe force microscopy
    Baba, Masakazu ; Tsurekawa, Sadahiro ; et al.
    In: 2013 IEEE 39th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2013-06-01, S. 535-538
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Grain boundaries characterization of semiconducting BaSi2 thin films on a polycrystalline Si substrate
    Baba, Masakazu ; Hara, Kosuke O. ; et al.
    In: 2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2014-06-01, S. 206-208
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    KFM evaluation of seebeck coefficient in thin SOI layers
    Ikeda, Hiroya ; Suzuki, Yuhei ; et al.
    In: 2013 International Conference on QiR, 2013-06-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    KFM detection of charges injected by AFM into a thin SiO<subscript>2</subscript> layer containing Si nanocrystals
    Dumas, C. ; Ressier, L. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 85 (2008-12-01), Heft 12, S. 2358-2361
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    X-ray absorption microspectroscopy using Kelvin force microscopy with an X-ray source
    ISMI, M ; RIGOPOULOS, N ; et al.
    In: Proceedings of the 23rd international conference on defects in semiconductors, ICDS-23, Awaji Island, Japan, 27-29 July 2005, Jg. 376-77 (2006), S. 950-954
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Interfacial state and potential barrier height associated with grain boundaries in polycrystalline silicon
    TSUREKAWA, Sadahiro ; KIDO, Kota ; et al.
    In: International Symposium on Physics of Materials 10, 2005, Jg. 462 (2007), Heft 1-2, S. 61-67
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Etude de fils semi-conducteurs dopés individuels par techniques locales d'analyse de surface
    Morin, Julien
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Study of individual doped semiconductor wires by local techniques of surface analysis
    Morin, Julien ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI) ; et al.
    2013
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Study of individual doped semiconductor wires by local surface analysis techniques ; Etude de fils semi-conducteurs dopés individuels par techniques locales d'analyse de surface
    Morin, Julien ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01202679 ; Autre. Université de Grenoble, 2013. Français. ⟨NNT : 2013GRENI074⟩, 2013
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Study of individual doped semiconductor wires by local techniques of surface analysis ; Étude de fils semi-conducteurs dopés individuels par techniques locales d'analyse de surface.
    Morin, Julien ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-00990792 ; Matériaux. Université de Grenoble, 2013. Français. ⟨NNT : 510⟩, 2013
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Etude de fils semi-conducteurs dopés individuels par techniques locales d'analyse de surface ; Study of individual doped semiconductor wires by local surface analysis techniques
    Morin, Julien ; Grenoble ; et al.
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Band profiling of p-Si/ITO interface by Kelvin probe force microscopy under light controlled conditions
    Yamada, Fumihiko ; Kamioka, Takefumi ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 3315-3318
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Investigation of the surface potential and the depletion layer of Silicon-Schottky barrier diode — Evaluation by scanning probe microscopy
    Uruma, Takeshi ; Satoh, Nobuo ; et al.
    In: 2016 19th International Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS), 2016-11-01, S. 1-5
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Kelvin-Probe Force Microscopy Defect Study of Ion Implanted Thermal Oxide Thin Films on Silicon
    Lay, M.D.H. ; Pakes, C.I. ; et al.
    In: Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices,, 2004, S. 405-408
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Microscopic electronic and structural analysis of femtosecond laser sulfur hyperdoped silicon.
    Sickel, J. ; Ahrens, A. ; et al.
    In: Physica Status Solidi. A: Applications & Materials Science, Jg. 214 (2017-07-01), Heft 7, S. n/a- (6S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Silicon Nanodot Layers for Photovoltaic Application: Size/Density Control and Electrical Properties.
    Stegemann, Bert ; Čermák, Jan ; et al.
    In: Zeitschrift für Physikalische Chemie, Jg. 228 (2014-05-01), Heft 4/5, S. 543-556
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Charging Process and Coulomb-Force-Directed Printing of Nanoparticles with Sub-100-nm Lateral Resolution.
    Barry ; C., R. ; et al.
    In: Nano Letters, Jg. 5 (2005-10-01), Heft 10, S. 2078-2084
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Effects of an adsorbed water layer and self-assembled organosilane monolayers on scanning probe microscopy of silicon pn structures
    Nakagiri, N. ; Sugimura, H. ; et al.
    In: Surface Science, Jg. 532-535 (2003-06-10), S. 999-1003
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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