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    (Invited) On the Potential of Lateral BJTs and SiGe HBTs in Advanced CMOS Technologies
    Koricic, Marko ; Osrecki, Zeljko ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 98 (2020-09-08), S. 111-117
    Online unknown
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    Three-Dimensional Integration of Fully Depleted Silicon-on-Insulator Transistor Substrates for CMOS Image Sensors Using Au/SiO2 Hybrid Bonding and XeF2 Etching
    Saraya, Takuya ; Hiramoto, Toshiro ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-14), S. 391-396
    Online unknown
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    (Invited) Advanced FinFET Technologies: Extension Doping, Vth Controllable CMOS Inverters and SRAM
    Sakamoto, Kunihiro ; Matsukawa, Takashi ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 28 (2010-04-16), S. 385-401
    Online unknown
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    Front-End Process Technology for hp65/45 CMOS Devices
    Nara, Yasuo ; Ootsuka, Fumio ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 2 (2006-04-28), S. 27-31
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    (Invited) Are Si/SiGe Tunneling Field-Effect Transistors a Good Idea?
    Solomon, Paul M. ; Haensch, Wilfried ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 357-361
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    Performance of Junctionless Nanowire MOSFET as a Quasi-Linear Resistor
    Doria, Rodrigo T. ; Michelly de Souza ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 53 (2013-05-03), S. 115-120
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    Comparison of Short-Channel Effects in SOI and sSOI Triple-Gate MOSFETs
    Xiong, Wade ; Cristoloveanu, Sorin ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 19 (2009-05-15), S. 297-302
    Online unknown
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    Nanoscaled MOSFET Transistors on Strained Si, SiGe, Ge Layers: Some Integration and Electrical Properties Features
    Deleonibus, Simon ; Barbe, Jean-Charles ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 947-961
    Online unknown
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    Novel Electrostatically Doped Planar Field-Effect Transistor for High Temperature Applications
    Schwalke, Udo ; Wessely, Frank ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-13), S. 11-24
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    Sharp Switching SOI Devices
    Wan, Jing ; Cyrille Le Royer ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 53 (2013-05-03), S. 3-13
    Online unknown
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    Impact of Halo Implantation on the Lifetime Assessment in Partially Depleted SOI Transistors
    Galeti, Milene ; Claeys, C. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 351-359
    Online unknown
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