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  1. S. S. Teja Nibhanupudi ; Siddhartha Raman Sundara Raman ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 201-208
    Online unknown
  2. Rebeiz, Gabriel M. ; Gao, Li
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), S. 1244-1247
    Online unknown
  3. Novoselov, A. S. ; Masalsky, N. V. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 50 (2021-07-01), S. 278-285
    Online unknown
  4. Salvador Pinillos Gimenez ; Renaux, Christian ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 415-423
    Online unknown
  5. Masal’skii, N. V.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 49 (2020-09-01), S. 324-331
    Online unknown
  6. Zou, Shichang ; Dai, Ruofan ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 62 (2020-02-29), S. 2451-2457
    Online unknown
  7. Robillard, Jean-François ; Okada, Etienne ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 973-978
    Online unknown
  8. Lee, Yi-Kuen ; Wang, Xiaoyi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), S. 5155-5161
    Online unknown
  9. Haneef, I. ; Udrea, Florin ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 283 (2018-11-01), S. 159-168
    Online unknown
  10. Alluri, Sravya ; Jayamon, Jefy A. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 186 (2021-12-01), S. 108149-108149
    Online unknown
  11. Jacquier, Blaise ; Haendler, Sebastien ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 126 (2021-11-01), S. 114370-114370
    Online unknown
  12. Ohba, Takayuki ; Ichiki, Takanori ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-06-01), S. 851-854
    Online unknown
  13. Souifi, Abdelkader ; Drouin, Dominique ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1026-1032
    Online unknown
  14. Safonov, Sergey O. ; Stakhin, Veniamin G. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 416-425
    Online unknown
  15. Blank, Tania ; Nemirovsky, Yael ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), S. 4657-4663
    Online unknown
  16. Marin-Cudraz, D. ; Legrand, Charles-Alexandre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-10-01), S. 3991-3997
    Online unknown
  17. Hu, Zhiyuan ; Song, Lei ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 74 (2017-07-01), S. 1-8
    Online unknown
  18. Mori, Takayuki ; Ida, Jiro
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1213-1219
    Online unknown
  19. Okamoto, Yuki ; Mita, Yoshio
    In: Microsystem Technologies, Jg. 24 (2017-04-24), S. 503-510
    Online unknown
  20. Fahad, Hossain M. ; Ghoneim, Mohamed T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-07-01), S. 2657-2664
    Online unknown
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