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In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 11, S. 1510-1512Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 26 (2005), Heft 6, S. 416-418Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 25 (2004), Heft 9, S. 661-663Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 31 (2010), Heft 12, S. 1425-1427Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 13 (1992), Heft 9, S. 460-461Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 10 (1989), Heft 4, S. 144-146Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 7 (1986), Heft 5, S. 279-281Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 7 (1986), Heft 7, S. 443-445Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 7 (1986), Heft 6, S. 350-352Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 6, S. 615-617Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 5, S. 412-415Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 12, S. 1717-1719Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 2, S. 161-163Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 6, S. 743-745Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 31 (2010), Heft 9, S. 972-974Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 30 (2009), Heft 3, S. 282-284Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 2, S. 117-119Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 11 (1990), Heft 2, S. 98-99Online academicJournalZugriff: