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  1. Chen, Y. B. ; Liu, X. F. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 42 (2006-09-14), Heft 19, S. 1074-1076
    academicJournal
  2. Kim, H. ; Jung, C. W.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 46 (2010-08-19), Heft 17, S. 1183-1185
    academicJournal
  3. Huang, C. Y. ; Lin, D. Y.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 42 (2006-09-14), Heft 19, S. 1073-1074
    academicJournal
  4. Rhee, S. ; Yun, G.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 42 (2006-08-17), Heft 17, S. 952-953
    academicJournal
  5. Denidni, T. A. ; Habib, M. A.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 42 (2006-02-02), Heft 3, S. 135-136
    academicJournal
  6. Yang, K. ; Wang, H. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 47 (2011-06-09), Heft 12, S. 685-686
    academicJournal
  7. Jan, J. Y. ; Hsiang, C. Y.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 42 (2006-11-23), Heft 24, S. 1377-1378
    academicJournal
  8. Hu, L. ; Hua, W.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 47 (2011-07-07), Heft 14, S. 789-790
    academicJournal
  9. Lee, J.I. ; Yeo, J.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 48 (2012-04-12), Heft 8, S. 420-422
    academicJournal
  10. Chou, C. C. ; Lin, K. H. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 43 (2007-04-26), Heft 9, S. 485-486
    academicJournal
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