Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
26 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Sprache

26 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Deep Transfer Bug Localization
    Lo, David ; Thung, Ferdian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 47 (2021-07-01), S. 1368-1380
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Detecting Bugs by Discovering Expectations and Their Violations
    Zhang, Yan ; Shi, Wenchang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 45 (2019-10-01), S. 984-1001
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Reducing Features to Improve Code Change-Based Bug Prediction.
    Shivaji, Shivkumar ; James Whitehead Jr., E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 39 (2013-04-01), Heft 4, S. 552-569
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Mapping Bug Reports to Relevant Files: A Ranking Model, a Fine-Grained Benchmark, and Feature Evaluation
    Ye, Xin ; Bunescu, Razvan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 42 (2016-04-01), S. 379-402
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Reducing Features to Improve Code Change-Based Bug Prediction
    E. James Whitehead ; Kim, Sunghun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 39 (2013-04-01), S. 552-569
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record in OpenAIRE (Volltext) Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Automatic mining of source code repositories to improve bug finding techniques
    Williams, Chadd C. ; Hollingsworth, Jeffrey K.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 31 (2005-06-01), S. 466-480
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    The Impact of Classifier Configuration and Classifier Combination on Bug Localization
    Blostein, Dorothea ; Nagappan, Meiyappan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 39 (2013-10-01), S. 1427-1443
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record in OpenAIRE (Volltext) Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Just-In-Time Defect Identification and Localization: A Two-Phase Framework
    Xia, Xin ; Li, Shanping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 48 (2022), S. 82-101
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Deep Semantic Feature Learning for Software Defect Prediction
    Tan, Lin ; Wang, Song ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 46 (2020-12-01), S. 1267-1293
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Trident: Controlling Side Effects in Automated Program Repair
    Parasaram, Nikhil ; Mechtaev, Sergey ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, 2021, S. 1-1
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    ARENA: An Approach for the Automated Generation of Release Notes
    Moreno, Laura ; Oliveto, Rocco ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 43 (2017-02-01), S. 106-127
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Developer Micro Interaction Metrics for Software Defect Prediction
    Lee, Taek ; Kim, Sunghun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 42 (2016-11-01), S. 1015-1035
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Classifying Software Changes: Clean or Buggy?
    Zhang, Yi ; Whitehead, E.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 34 (2008-03-01), S. 181-196
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Test Code Quality and Its Relation to Issue Handling Performance
    Zaidman, Andy ; Nugroho, Ariadi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 40 (2014), S. 1100-1125
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record in OpenAIRE (Volltext) Volltext Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Finding Clones with Dup: Analysis of an Experiment
    Baker, Brenda S.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 33 (2007-09-01), S. 608-621
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Feature Location Using Probabilistic Ranking of Methods Based on Execution Scenarios and Information Retrieval
    Poshyvanyk, Denys ; Marcus, Andrian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 33 (2007-06-01), S. 420-432
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    STRUCT programming analysis system
    A. Van Dam ; Stockenberg, J. E.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, 1975-12-01, S. 384-389
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Mithra: Anomaly Detection as an Oracle for Cyberphysical Systems
    Afzal, Afsoon ; Christopher Steven Timperley ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 48 (2022-11-01), S. 4535-4552
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Enabling Mutant Generation for Open- and Closed-Source Android Apps
    Tufano, Michele ; Bavota, Gabriele ; et al.
    In: IEEE Transactions on Software Engineering, Jg. 48 (2022), S. 186-208
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -