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    Scaled CMOS Reliability and Considerations for Spacecraft Systems: Bottom-Up and Top-Down Perspective
    White, Mark
    2012
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Scaled CMOS Reliability and Considerations for Spacecraft Systems : Bottom-Up and Top-Down Perspectives
    White, Mark
    2012
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Prediction and measurement of radiation damage to CMOS devices on board spacecraft
    Cliff, R. A ; Danchenko, V ; et al.
    1976
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Successful large-scale use of CMOS devices on spacecraft traveling through intense radiation belts
    Brucker, G. J ; Ohanian, R. S ; et al.
    In: IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, Jg. AES-12 (1976)
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Prediction and measurement results of radiation damage to CMOS devices on board spacecraft
    Stassinopoulos, E. G ; Danchenko, V ; et al.
    1977
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Hardening Of MJS77 Spacecraft against the Jupiter Radiation Belts
    W E Price ; A G Stanley
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 22 (1975-12-01), Heft 6
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Evaluation of an Ultra-Low Power Reed Solomon Encoder for NASA's Space Technology 5 Mission
    Li, K. E ; Xapsos, M. A ; et al.
    2003
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    The Galileo single-event upset solution and risk assessment
    Burdick, Garry M ; Kopf, Edward H ; et al.
    1986
    Online report
    Zugriff:
    View record in NASA Technical Reports (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -