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  1. Zhu, Maohua ; Tongzhao, GU
    In: ICMMT 4th International Conference on, Proceedings Microwave and Millimeter Wave Technology,, 2004, S. 452-455
    Konferenz
  2. Yunoki, A. ; Doke, T. ; et al.
    In: Proceedings of 2002 IEEE 14th International Conference on Dielectric Liquids. ICDL 2002 (Cat. No.02CH37319), 2002, S. 412-415
    Konferenz
  3. Svelto, C. ; Galzerano, G. ; et al.
    In: IMTC 2001. Proceedings of the 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference. Rediscovering Measurement in the Age of Informatics (Cat. No.01CH 37188), Jg. 1 (2001), S. 228-233
    Konferenz
  4. Lin, Chenglu ; Duo, Xinzhong ; et al.
    In: 2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No.01EX443), Jg. 1 (2001), S. 650-654
    Konferenz
  5. Ledoux, F. ; Zhilinskaya, E. ; et al.
    In: 2000 Mediterranean Conference for Environment and Solar. COMPLES'2K (Cat. No.00EX493), 2000, S. 169-174
    Konferenz
  6. Bar, M. ; Rusu, M. ; et al.
    In: Conference Record of the Thirty-first IEEE Photovoltaic Specialists Conference,, 2005, S. 307-310
    Konferenz
  7. Syntfeld, A. ; Moszynski, M. ; et al.
    In: IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science, Jg. 3 (2004), S. 1545-1550
    Konferenz
  8. Dallimore, M. ; Crossinghmam, G.J. ; et al.
    In: 2002 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, Jg. 1 (2002), S. 337-341
    Konferenz
  9. Champlin, K.S. ; Bertness, K.
    In: INTELEC. Twenty-Second International Telecommunications Energy Conference (Cat. No.00CH37131), 2000, S. 348-355
    Konferenz
  10. Galzerano, G. ; Svelto, C. ; et al.
    In: Proceedings of the 1999 Joint Meeting of the European Frequency and Time Forum and the IEEE International Frequency Control Symposium (Cat. No.99CH36313), Jg. 2 (1999), S. 730-733
    Konferenz
  11. Svelto, C. ; Galzerano, G. ; et al.
    In: IMTC/2002. Proceedings of the 19th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IEEE Cat. No.00CH37276), Jg. 1 (2002), S. 69-72
    Konferenz
  12. Marano, M. ; Laporta, P. ; et al.
    In: IMTC/2002. Proceedings of the 19th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IEEE Cat. No.00CH37276), Jg. 1 (2002), S. 737-740
    Konferenz
  13. Kosiba, R. ; Ecke, G. ; et al.
    In: The Fourth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystem, 2002, S. 203-206
    Konferenz
  14. Collart, E.J.H. ; Heijdra, M. ; et al.
    In: 1998 International Conference on Ion Implantation Technology. Proceedings (Cat. No.98EX144), Jg. 2 (1998), S. 712-715
    Konferenz
  15. Timmers, H. ; Dogra, R. ; et al.
    In: Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices,, 2004, S. 17-20
    Konferenz
  16. McDonald, M. ; Cross, A. ; et al.
    In: Proceedings of the 22nd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (Cat. No.00CH37143), Jg. 4 (2000), S. 2857-2860
    Konferenz
  17. Jenne, J. ; Moosmann, M. ; et al.
    In: 2000 IEEE Ultrasonics Symposium. Proceedings. An International Symposium (Cat. No.00CH37121), Jg. 2 (2000), S. 1363-1366
    Konferenz
  18. Kim, S. ; Rhee, S.J. ; et al.
    In: Compound Semiconductors 1997. Proceedings of the IEEE Twenty-Fourth International Symposium on, 1997, S. 203-206
    Konferenz
  19. Kuck, S. ; Richter, A. ; et al.
    In: (CLEO). Conference on Lasers and Electro-Optics,, Jg. 1 (2005), S. 303-305
    Konferenz
  20. Fieno, T.E. ; Viswanathan, V. ; et al.
    In: Proceedings 1999 International Conference on Information Intelligence and Systems (Cat. No.PR00446), 1999, S. 80-85
    Konferenz
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