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    Neutron and Proton-Induced Single Event Upsets in Advanced Commercial Fully Depleted SOI SRAMs.
    Baggio, J. ; Ferlet-Cavrois, V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2319-2325
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Monte-Carlo Simulations to Quantify Neutron-Induced Multiple Bit Upsets in Advanced SRAMs.
    Mérelle, Thomas ; Saigné, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-10-02), Heft 5, S. 1538-1544
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Contribution, of SiO² in Neutron-Induced SEU in SRAMs.
    Wrobel, F. ; Palau, J. M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-12-01), Heft 6, S. 2055-2059
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -