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    Approximate MLEs for the location & scale parameters of the half-logistic distribution with type-II right-censoring
    BALAKRISHNAN, N ; WONG, K. H. T
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 40 (1991), Heft 2, S. 140-145
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Approximate MLEs for the location & scale parameters of the extreme value distribution with censoring
    BALAKRISHNAN, N ; VARADAN, J
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 40 (1991), Heft 2, S. 146-151
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Properties of the MLE for parameters of a Weibull regression model under type I censoring
    BUGAIGHIS, M. M
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 39 (1990), Heft 1, S. 102-105
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Percentiles of pivotal ratios for the MLE of the parameters of a Weibull regression model
    BUGAIGHIS, M. M
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 42 (1993), Heft 1, S. 97-99
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Approximate MLE of the scale parameter of the Rayleigh distribution with censoring
    BALAKRISHNAN, N
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 38 (1989), Heft 3, S. 355-357
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Approximate MLEs for the location and scale parameters of the extreme value distribution with censoring
    Varadan, J. ; Balakrishnan, Narayanaswamy
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 40 (1991-06-01), S. 146-151
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Approximate MLEs for the location and scale parameters of the half-logistic distribution with type-II right-censoring
    Balakrishnan, Narayanaswamy ; Wong, K.H.T.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 40 (1991-06-01), S. 140-145
    Online unknown
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    View record in OpenAIRE (Volltext)
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    Wie komme ich dran?
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    Properties of the MLE for parameters of a Weibull regression model under type I censoring
    Bugaighis, M.M.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 39 (1990-04-01), S. 102-105
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Percentiles of pivotal ratios for the MLE of the parameters of a Weibull regression model
    Bugaighis, M.M.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 42 (1993-03-01), S. 97-99
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Efficiencies of MLE and BLUE for parameters of an accelerated life-test model
    Bugaighis, M.M.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 37 (1988-06-01), S. 230-233
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Approximate MLE of the scale parameter of the Rayleigh distribution with censoring
    Balakrishnan, Narayanaswamy
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 38 (1989), S. 355-357
    Online unknown
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    Uniqueness of maximum likelihood estimators of the 2-parameter Weibull distribution
    FARNUM, N. R ; BOOTH, P
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 46 (1997), Heft 4, S. 523-525
    Online academicJournal
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    Exact Inference for Laplace Quantile, Reliability, and Cumulative Hazard Functions Based on Type-II Censored Data
    Balakrishnan, Narayanaswamy ; Zhu, Xiaojun
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-03-01), S. 164-178
    Online unknown
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    Assessing the Lifetime Performance Index of Exponential Products With Step-Stress Accelerated Life-Testing Data
    Lei, Chia-Ling ; Wu, Jong-Wuu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 62 (2013-03-01), S. 296-304
    Online unknown
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    Statistical Inference for a Lognormal Step-Stress Model With Type-I Censoring
    Lin, Chien-Tai ; Chou, Cheng-Chieh
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-06-01), S. 361-377
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Order restricted inference for exponential step-stress models
    Balakrishnan, Narayanaswamy ; Beutner, E. ; et al.
    In: Ieee Transactions on Reliability, Jg. 58 (2009), Heft 1, S. 132-142
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Parameter Estimation for a Modified Weibull Distribution, for Progressively Type-II Censored Samples
    Hon Keung Tony Ng
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 54 (2005-09-01), S. 374-380
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Point and interval estimation for Gaussian distribution, based on progressively type-II censored samples
    Lin, Chien-Tai ; Hon Keung Tony Ng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 52 (2003-03-01), S. 90-95
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    Wie komme ich dran?
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    Goodness-of-fit tests for type-I extreme-value and 2-parameter Weibull distributions
    Liao, Min ; Shimokawa, T.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 48 (1999-03-01), S. 79-86
    Online unknown
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    Estimation of the geometric survival distribution
    Lui, Kung-Jong
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 46 (1997-03-01), S. 134-141
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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