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    Process integration of infrared-sensitive PIN photodiodes and CMOS transistors in a single-SiGe substrate
    Nebrich, L. ; Bensch, Frank ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 8 (2005-02-01), S. 429-433
    Online unknown
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    Epitaxial anatase HfO2 on high-mobility substrate for ultra-scaled CMOS devices
    Wiemer, Claudia ; Fanciulli, Marco ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 11 (2008-10-01), S. 241-244
    Online unknown
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    Polysilicon thin-film transistors on polymer substrates
    Maiolo, Luca ; Pecora, Alessandro ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 15 (2012-12-01), S. 627-641
    Online unknown
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    Low-stress hybridisation of emitters, detectors and driver circuitry on a silicon motherboard for optoelectronic interconnect architecture
    Rodgers, Kenneth ; Kelly, P.V. ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 3 (2000-10-01), S. 449-453
    Online unknown
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    The Pr2O3/Si(001) interface
    Schmeißer, Dieter
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 6 (2003-02-01), S. 59-70
    Online unknown
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    Investigation on surface smoothing of silicon-on-insulator with gas phase hydrogen chloride etching
    Gao, Yuan ; Wei, Xing ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 130 (2021-08-01), S. 105842-105842
    Online unknown
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    Impact of Yb, In, Ag and Au thin film substrates on the crystalline nature, Schottky barrier formation and microwave trapping properties of Bi 2 O 3 films
    Khanfar, Hazem K. ; Khusayfan, Najla M. ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 64 (2017-06-01), S. 63-70
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A deep-level transient spectroscopy study of Co- and Ni-germanided n-type germanium
    Forment, S. ; R. L. Van Meirhaeghe ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 9 (2006-08-01), S. 554-558
    Online unknown
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xs 0 - 576
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md 768 - 992
lg 992 - 1200
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