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    First integration of MOSFET band-to-band-tunneling current in BSIM4
    Nenzi, Paolo ; Olivieri, Mauro ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 44 (2013), S. 26-32
    Online unknown
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    Multi-objective genetic algorithms based approach to optimize the electrical performances of the gate stack double gate (GSDG) MOSFET
    Bendib, T. ; Djeffal, Fayçal
    In: Microelectronics Journal, Jg. 42 (2011-05-01), S. 661-666
    Online unknown
    Zugriff:
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    A novel current reference based on subthreshold MOSFETs with high PSRR
    Guoyi, Yu ; Xuecheng, Zou
    In: Microelectronics Journal, Jg. 39 (2008-12-01), S. 1874-1879
    Online unknown
    Zugriff:
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    MOSFET degradation during substrate hot electron stress
    McPhie, A. ; Zhao, S.P. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 25 (1994-10-01), S. 515-522
    Online unknown
    Zugriff:
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