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    On-chip Raman spectrometers using narrow band filter array combined with CMOS image sensors
    Park, Yeonsang ; Kim, Un Jeong ; et al.
    In: Sensors and Actuators B: Chemical ; volume 381, page 133442 ; ISSN 0925-4005, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Improved ferroelectric properties of CMOS back-end-of-line compatible Hf0.5Zr0.5O2 thin films by introducing dielectric layers
    Ju, Changfan ; Zeng, Binjian ; et al.
    In: Journal of Materiomics ; ISSN 2352-8478, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Microfabricated albedo insensitive sun position sensor system in silicon carbide with integrated 3D optics and CMOS electronics
    Romijn, Joost ; Vollebregt, Sten ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical ; volume 354, page 114268 ; ISSN 0924-4247, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Fully CMOS-compatible passive TiO2-based memristor crossbars for in-memory computing
    El Mesoudy, Abdelouadoud ; Lamri, Gwénaëlle ; et al.
    In: Microelectronic Engineering ; volume 255, page 111706 ; ISSN 0167-9317, 2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design and evaluation of in-plane silicon microneedles fabricated with post-CMOS compatible processes
    Mamun, Abdulla Al ; Sueoka, Brandon ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical ; volume 336, page 113407 ; ISSN 0924-4247, 2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    NANO-studio, the design environment of filter banks implemented in standard CMOS technology
    Handkiewicz, Andrzej ; Naumowicz, Mariusz
    In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing ; volume 109, issue 2, page 323-333 ; ISSN 0925-1030 1573-1979, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A low-power 10-bit 0.01-to-12-MS/s asynchronous SAR ADC in 65-nm CMOS
    Campos, Arthur Lombardi ; Navarro, João ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing ; volume 106, issue 1, page 321-337 ; ISSN 0925-1030 1573-1979, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Origins and minimization of intermodulation distortion in a pseudo-differential CMOS beamforming receiver
    Shabanzadeh, Negar ; Akbar, Rehman ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing ; ISSN 0925-1030 1573-1979, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    NDIR CO2 gas sensing using CMOS compatible MEMS ScAlN-based pyroelectric detector
    Ng, Doris Keh Ting ; Ho, Chong Pei ; et al.
    In: Sensors and Actuators B: Chemical ; volume 346, page 130437 ; ISSN 0925-4005, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Impact of single-defects on the variability of CMOS inverter circuits
    Waltl, Michael ; Waldhoer, Dominic ; et al.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 126, page 114275 ; ISSN 0026-2714, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Hot-carrier evaluation of a zero-cost transistor developed via process optimization in an embedded non-volatile memory CMOS technology
    Devoge, P. ; Aziza, H. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 126, page 114265 ; ISSN 0026-2714, 2021
    academicJournal
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    Local reaction fields on a CMOS sensor array utilizing a magneto-Archimedes levitation–based magnetic particle-arrangement method
    Ushijima, Eizo ; Fujimoto, Satoshi ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical ; volume 323, page 112655 ; ISSN 0924-4247, 2021
    academicJournal
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    Analysis of the composition of tantalum nitride in CMOS metallization trenches using parallel angle‐resolved XPS
    Wehring, Bettina ; Gerlich, Lukas ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis ; volume 52, issue 12, page 962-967 ; ISSN 0142-2421 1096-9918, 2020
    academicJournal
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    Sub-20 nm multilayer nanopillar patterning for hybrid SET/CMOS integration
    Pourteau, M. L. ; Gharbi, A. ; et al.
    In: Micro and Nano Engineering ; volume 9, page 100074 ; ISSN 2590-0072, 2020
    academicJournal
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    Redox cycling-based electrochemical CMOS imaging sensor for real time and selective imaging of redox analytes
    Abe, Hiroya ; Yabu, Hiroshi ; et al.
    In: Sensors and Actuators B: Chemical ; volume 304, page 127245 ; ISSN 0925-4005, 2020
    academicJournal
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    Reliability challenges in CMOS technology: A manufacturing process perspective
    Teng, Qiao ; Hu, Yongkang ; et al.
    In: Microelectronic Engineering ; volume 281, page 112086 ; ISSN 0167-9317, 2023
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    TLP/VFTLP investigation on eNVM 1T1R PCM in FD-SOI UTBB CMOS technology at room temperature
    Galy, Ph. ; Jacquier, B. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 148, page 115168 ; ISSN 0026-2714, 2023
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A high-speed quadruple-node-upset-tolerant latch in 22 nm CMOS technology
    Huang, Zhengfeng ; Zhang, Yan ; et al.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 147, page 115032 ; ISSN 0026-2714, 2023
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Performance comparison of vertically stacked nanosheet CFET and standard CMOS without and with parasitic channels
    Li, Jiawei ; Zhao, Mengqing ; et al.
    In: Microelectronic Engineering ; volume 279, page 112053 ; ISSN 0167-9317, 2023
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Finite element simulation-based prediction of CMOS-compatible pyroelectric material in MEMS IR detectors
    Ranu ; Agarwal, Pankaj B. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 147, page 115076 ; ISSN 0026-2714, 2023
    academicJournal
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