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  1. YUANCHUN, LIU ; YURONG, HE ; et al.
    In: Journal of alloys and compounds, Jg. 589 (2014), S. 101-108
    academicJournal
  2. KWOKA, M ; OTTAVIANO, L ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 515 (2007), Heft 23, S. 8328-8331
    Konferenz
  3. SALI, Jaydeep V ; PATIL, S. B ; et al.
    In: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000, Jg. 395 (2001), Heft 1-2, S. 66-70
    Konferenz
  4. SCHMAUDER, T ; NAUENBURG, K.-D ; et al.
    In: Advanced coatings on glass and plastics for large-area or high-volume products, Jg. 502 (2006), Heft 1-2, S. 270-274
    Konferenz
  5. KINOSHITA, Haruhisa ; IKUTA, Ryo ; et al.
    In: Proceedings of the 18th Symposium on Plasma Science for Materials (SPSM-18), Tokyo, Japan, June 28-29, 2005, Jg. 515 (2007), Heft 9, S. 4121-4124
    Konferenz
  6. LEDERMANN, Andrea ; WEBER, Urban ; et al.
    In: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000, Jg. 395 (2001), Heft 1-2, S. 61-65
    Konferenz
  7. UMEDA, T ; MOCHIZUKI, Y ; et al.
    In: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000, Jg. 395 (2001), Heft 1-2, S. 266-269
    Konferenz
  8. LARSSON, Karin
    In: Proceedings of the eight International conference on atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures and the thirteenth International congress on thin films, Stockholm, Sweden, June 20-23, 2005 (ACSIN 8/ICTF 13), Jg. 515 (2006), Heft 2, S. 401-406
    Konferenz
  9. SOLER, D ; FONRODONA, M ; et al.
    In: Proceedings of the Second International Conference on Cat-CVD (Hot Wire CVD) Process, Denver, Colorado, USA, September 10-13, 2002, Jg. 430 (2003), Heft 1-2, S. 157-160
    Konferenz
  10. WILLIAMSON, D. L ; MARR, D. W. M ; et al.
    In: Proceedings of the Second International Conference on Cat-CVD (Hot Wire CVD) Process, Denver, Colorado, USA, September 10-13, 2002, Jg. 430 (2003), Heft 1-2, S. 192-196
    Konferenz
  11. KWOKA, M ; OTTAVIANO, L ; et al.
    In: Proceedings of the 4th International Workshop on Semiconductor Gas Sensors (SGS 2004), Jg. 490 (2005), Heft 1, S. 36-42
    Konferenz
  12. BOGDAN, G ; NESLADEK, M ; et al.
    In: Physica status solidi. A. Applied research, Jg. 202 (2005), Heft 11, S. 2066-2072
    Online Konferenz
  13. MATSUMOTO, Yasuhiro ; ORTEGA, Mauricio ; et al.
    In: IMRC 2004, Cancun, Mexico, August 22-26, Jg. 490 (2005), Heft 2, S. 173-176
    Konferenz
  14. UMEMOTO, Hironobu ; NOZAKI, Yoshitaka ; et al.
    In: Proceedings of the 19th international conference on amorphous and microcrystalline semiconductors - science and technology (ICAMS 19), Nice, France, August 27-31, 2001. Part A, Jg. 299302 (2002), S. 9-13
    Konferenz
  15. CHICHI, CHEN ; JING, LIU ; et al.
    In: Materials science & engineering. A, Structural materials : properties, microstructure and processing, Jg. 558 (2012), S. 285-297
    academicJournal
  16. SHECHTMAN, Dan
    In: Journal of materials science, Jg. 41 (2006), Heft 23, S. 7720-7724
    Online Konferenz
  17. KARVANKOVA, P ; VEPREK-HEIJMAN, M. G. J ; et al.
    In: Proceedings of the 29th International Conference on Metallurgic Coatings and Thin Films, San Diego, California, April 22-26, 2002, Jg. 163-64 (2003), S. 149-156
    Konferenz
  18. FANG, Q ; ZHANG, J.-Y ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Growth and Evolution of Ultra Thin Films: Surface and Interface Geometric & Electronic Structure, Jg. 428 (2003), Heft 1-2, S. 263-268
    Konferenz
  19. WARNES, Bruce Michael
    In: Proceedings of the 29th International Conference on Metallurgic Coatings and Thin Films, San Diego, California, April 22-26, 2002, Jg. 163-64 (2003), S. 106-111
    Konferenz
  20. MOYZYKH, M ; SAMOILENKOV, S ; et al.
    In: Journal of crystal growth, Jg. 383 (2013), S. 145-150
    academicJournal
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