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  1. KWOKA, M ; OTTAVIANO, L ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 515 (2007), Heft 23, S. 8328-8331
    Konferenz
  2. SALI, Jaydeep V ; PATIL, S. B ; et al.
    In: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000, Jg. 395 (2001), Heft 1-2, S. 66-70
    Konferenz
  3. SCHMAUDER, T ; NAUENBURG, K.-D ; et al.
    In: Advanced coatings on glass and plastics for large-area or high-volume products, Jg. 502 (2006), Heft 1-2, S. 270-274
    Konferenz
  4. KINOSHITA, Haruhisa ; IKUTA, Ryo ; et al.
    In: Proceedings of the 18th Symposium on Plasma Science for Materials (SPSM-18), Tokyo, Japan, June 28-29, 2005, Jg. 515 (2007), Heft 9, S. 4121-4124
    Konferenz
  5. LEDERMANN, Andrea ; WEBER, Urban ; et al.
    In: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000, Jg. 395 (2001), Heft 1-2, S. 61-65
    Konferenz
  6. UMEDA, T ; MOCHIZUKI, Y ; et al.
    In: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000, Jg. 395 (2001), Heft 1-2, S. 266-269
    Konferenz
  7. LARSSON, Karin
    In: Proceedings of the eight International conference on atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures and the thirteenth International congress on thin films, Stockholm, Sweden, June 20-23, 2005 (ACSIN 8/ICTF 13), Jg. 515 (2006), Heft 2, S. 401-406
    Konferenz
  8. SOLER, D ; FONRODONA, M ; et al.
    In: Proceedings of the Second International Conference on Cat-CVD (Hot Wire CVD) Process, Denver, Colorado, USA, September 10-13, 2002, Jg. 430 (2003), Heft 1-2, S. 157-160
    Konferenz
  9. WILLIAMSON, D. L ; MARR, D. W. M ; et al.
    In: Proceedings of the Second International Conference on Cat-CVD (Hot Wire CVD) Process, Denver, Colorado, USA, September 10-13, 2002, Jg. 430 (2003), Heft 1-2, S. 192-196
    Konferenz
  10. CHUN, Min-Seung ; TERAJI, Tokuyuki ; et al.
    In: ISCSI-4: Proceedings of the Fourth International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, Karuizawa, Japan, October 21-25, 2002, Jg. 216 (2003), Heft 1-4, S. 106-112
    Konferenz
  11. KWOKA, M ; OTTAVIANO, L ; et al.
    In: Proceedings of the 4th International Workshop on Semiconductor Gas Sensors (SGS 2004), Jg. 490 (2005), Heft 1, S. 36-42
    Konferenz
  12. SOUSA, P. M ; SILVESTRE, A. J ; et al.
    In: Proceedings of the European Materials Research Society 2004-Symposium N, Strasbourg, France, May 24-28, Jg. 247 (2005), Heft 1-4, S. 423-428
    Konferenz
  13. WADA, Hideki ; TERAJI, Tokuyuki ; et al.
    In: ICSFS-12: 12th International Conference on Solid Films and Surfaces, Hamamatsu, Japan, 21-25 June 2004, Jg. 244 (2005), Heft 1-4, S. 305-309
    Konferenz
  14. MATSUMOTO, Yasuhiro ; ORTEGA, Mauricio ; et al.
    In: IMRC 2004, Cancun, Mexico, August 22-26, Jg. 490 (2005), Heft 2, S. 173-176
    Konferenz
  15. SPERANZA, G ; CALLIARI, L ; et al.
    In: APHYS2003, Jg. 238 (2004), Heft 1-4, S. 117-120
    Konferenz
  16. KANAYA, Toshiyuki ; SAKURABA, Masao ; et al.
    In: 11th International Conference on Solid Films and Surfaces, Marseille, France, July 8-12, 2002 (ICSFS-11), Jg. 212-13 (2003), S. 684-688
    Konferenz
  17. PEREIRA, Marcus A ; DINIZ, José A ; et al.
    In: 11th International Conference on Solid Films and Surfaces, Marseille, France, July 8-12, 2002 (ICSFS-11), Jg. 212-13 (2003), S. 388-392
    Konferenz
  18. YASUI, Kanji ; HASHIBA, Masahiro ; et al.
    In: ISCSI-4: Proceedings of the Fourth International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, Karuizawa, Japan, October 21-25, 2002, Jg. 216 (2003), Heft 1-4, S. 580-584
    Konferenz
  19. FANG, Q ; ZHANG, J.-Y ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Growth and Evolution of Ultra Thin Films: Surface and Interface Geometric & Electronic Structure, Jg. 428 (2003), Heft 1-2, S. 263-268
    Konferenz
  20. NAKAMURA, J ; FUKUMOTO, S ; et al.
    In: ISCSI-4: Proceedings of the Fourth International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, Karuizawa, Japan, October 21-25, 2002, Jg. 216 (2003), Heft 1-4, S. 59-64
    Konferenz
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