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  1. FANG, LIU ; GUANG, MENG
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 226-232
    academicJournal
  2. TSAI, Ming-Yi ; LIN, Chieh ; et al.
    In: IEEE transactions on electronics packaging manufacturing, Jg. 28 (2005), Heft 4, S. 328-337
    Online Konferenz
  3. KOO, Ja-Myeong ; JUNG, Seung-Boo
    In: Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, 6-9 March 2005, Dresden, Germany, Jg. 82 (2005), Heft 3-4, S. 569-574
    Konferenz
  4. GUEDON-GRACIA, A ; WOIRGARD, E ; et al.
    In: 16th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2005), Arcachon, France, October 10-14, Jg. 45 (2005), Heft 9-11, S. 1652-1657
    Konferenz
  5. VAN DRIEL, W. D ; MAVINKURVE, A ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 47 (2007), Heft 2-3, S. 205-214
    Konferenz
  6. TSAI, M. Y ; LIN, Y. C ; et al.
    In: 2004 4th IEEE international conference on polymers and adhesives in microelectronics and photonics (Portland OR, 12-15 September 2004), 2004, S. 163-170
    Konferenz
  7. CHUNGPAIBOONPATANA, Surasit ; SHI, Frank G ; et al.
    In: 9th international symposium on advanced packaging materials (processes, properties and interfaces), 2004, S. 38-44
    Konferenz
  8. GILLEO, Ken ; BELMONTE, Joe ; et al.
    In: 29th international electronics manufacturing technology symposium (San Jose CA CA, 14-16 July 2004), 2004, S. 345-354
    Konferenz
  9. CHUNGPAIBOONPATANA, Surasit ; SHI, Frank G ; et al.
    In: 9th international symposium on advanced packaging materials (processes, properties and interfaces), 2004, S. 31-37
    Konferenz
  10. TONG YAN, TEE ; ZHAOWEI, ZHONG
    In: Eurosime special section package and solder joint reliability analysed by fem simulation and experiments, Jg. 44 (2004), Heft 12, S. 1957-1965
    Konferenz
  11. ZIYU, LIU ; JIAN, CAI ; et al.
    In: Journal of electronic materials, Jg. 43 (2014), Heft 9, S. 3341-3350
    Online academicJournal
  12. CHEN, K. M ; WU, C. Y ; et al.
    In: Journal of electronic materials, Jg. 43 (2014), Heft 11, S. 4229-4240
    Online academicJournal
  13. LEE, Ghang-Yong ; YOON, Jeong-Won ; et al.
    In: Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, 6-9 March 2005, Dresden, Germany, Jg. 82 (2005), Heft 3-4, S. 561-568
    Konferenz
  14. TAYLOR, Joyce E. S ; PETERS, David W
    In: IMAPS : international symposium on microelectronics (Denver CO, 4-6 September 2002), 2002, S. 691-696
    Konferenz
  15. SUHLING, Jeffrey C ; JOHNSON, R. Wayne ; et al.
    In: IMAPS : international symposium on microelectronics (Denver CO, 4-6 September 2002), 2002, S. 524-532
    Konferenz
  16. UEGAI, Yasumi ; KAWAZU, Akinobu ; et al.
    In: 52nd electronic components & technology conference (San Diego CA, 28-31 May 2002), 2002, S. 1291-1296
    Konferenz
  17. LEILEI, ZHANG ; CHEE, Soon-Shin ; et al.
    In: 52nd electronic components & technology conference (San Diego CA, 28-31 May 2002), 2002, S. 1114-1118
    Konferenz
  18. SHIMOTO, Tadanori ; KIKUCHI, Katsumi ; et al.
    In: IMAPS : international symposium on microelectronics (Denver CO, 4-6 September 2002), 2002, S. 10-15
    Konferenz
  19. VARADARAJAN, Vijay ; KIM, Bruce C ; et al.
    In: 52nd electronic components & technology conference (San Diego CA, 28-31 May 2002), 2002, S. 1753-1756
    Konferenz
  20. LEILEI, ZHANG ; CHEE, Soon-Shin ; et al.
    In: 52nd electronic components & technology conference (San Diego CA, 28-31 May 2002), 2002, S. 1001-1006
    Konferenz
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