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    Ultra-thin SOI transistors for ultimate cmos technology: Fundamental properties and application perspectives
    ESSENI, D ; SANGIORGI, E ; et al.
    In: Frontiers in Electronics: Future Chips, Jg. 12 (2002), Heft 2, S. 333-342
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    RF CMOS reliability
    NASEH, Sasan ; DEEN, M. Jamal
    2001
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    RF CMOS noise characterization and modeling
    CHEN, Chih-Hung ; DEEN, M. Jamal
    2001
    Buch
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    High-speed and high-data-bandwidth transmitter and receiver for multi-channel serial data communication with CMOS technology
    FUKAISHI, Muneo ; NAKAMURA, Kazuyuki ; et al.
    2001
    Buch
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    SOI CMOS transistors for RF and microwave applications
    FLANDRE, D ; RASKIN, J.-P ; et al.
    2001
    Buch
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A new CMOS driver model for transient analysis and power dissipation analysis
    LIAO, H ; WAYNE WEI-MING, DAI ; et al.
    1996
    Buch
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Materials for strained silicon devices
    MOONEY, P. M
    In: Frontiers in Electronics: Future Chips, Jg. 12 (2002), Heft 2, S. 305-314
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    High-speed, low-power digital and analog circuits implemented in IBM SiGe BiCMOS technology
    FRITZ, Karl E ; RANDALL, Barbara A ; et al.
    2003
    Buch
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    System-on-chip integration
    DOERING, Robert R
    In: Frontiers in Electronics: Future Chips, Jg. 12 (2002), Heft 2, S. 325-332
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Issues, achievements and challenges towards integration of high-k dielectrics
    CAYMAX, M ; DE GENDT, S ; et al.
    In: Frontiers in Electronics: Future Chips, Jg. 12 (2002), Heft 2, S. 295-304
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Full-chip power-supply noise: The effect of on-chip power-rail inductance
    FOK, C. W ; PULFREY, D. L
    In: Frontiers in Electronics: Future Chips, Jg. 12 (2002), Heft 2, S. 573-582
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A comparison of silicon and III-V technology performance and building block implementations for 10 and 40 Gb/s optical networking ICs
    VOINIGESCU, S. P ; MCPHERSON, D. S ; et al.
    2003
    Buch
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Breakdown modes and breakdown statistics of ultrathin SiO2 gate oxides
    SUNE, Jordi ; JIMENEZ, David ; et al.
    2001
    Buch
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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