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    Potential and problems of high-temperature electronics and CMOS integrated circuits (25-250˚C): an overview
    SHOUCAIR, F. S
    In: Microelectronics, Jg. 22 (1991), Heft 2, S. 39-54
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Scaling aspects for different CMOS circuit designs due to transient latch-up effects
    RECZEK, W ; BONNER, F ; et al.
    In: Microelectronics, Jg. 21 (1990), Heft 3, S. 15-23
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    3D CMOS devices in recrystallized silicon
    BUCHNER, R ; HABERGER, K ; et al.
    In: Microelectronics, Jg. 21 (1990), Heft 6, S. 13-20
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    CMOS gates with regenerative action at one of inputs
    DOKIC, B. L ; ILISKOVIC, A. J ; et al.
    In: Microelectronics, Jg. 19 (1988), Heft 3, S. 17-20
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A compensation technique for two-stage CMOS operational amplifiers
    FORTIER, G. J ; FILANOVSKY, I. M
    In: Microelectronics, Jg. 18 (1987), Heft 3, S. 50-57
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A switched capacitor biquad filter
    JAIN, L. C ; HYLAND, D
    In: Microelectronics, Jg. 19 (1988), Heft 5, S. 35-38
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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