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  1. Dupont, Laurent ; Bontemps, Serge ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006-09-01), S. 1766-1771
    Online unknown
  2. M. Abo Ras ; Hirscheider, J. ; et al.
    In: 2019 20th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2019-03-01
    Online unknown
  3. Li, Y. ; Arnold, J. ; et al.
    In: 2018 17th IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm), 2018-05-01
    Online unknown
  4. Ikeda, Hiroaki ; Okada, Keiji ; et al.
    In: 2018 International Conference on Electronics Packaging and iMAPS All Asia Conference (ICEP-IAAC), 2018-04-01
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -