Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
3 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

3 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Channel hot carrier effects in n-MOSFET devices of advanced submicron CMOS technologies
    LA ROSA, Giuseppe ; RAUCH, Stewart E
    In: 14TH Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006), Jg. 47 (2007), Heft 4-5, S. 552-558
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Degradation of static and dynamic behavior of CMOS inverters during constant and pulsed voltage stress
    GERARDIN, S ; GRIFFONI, A ; et al.
    In: 17th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2006), Wuppertal, Germany, 3-6 October 2006, Jg. 46 (2006), Heft 9-11, S. 1669-1672
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Negative bias temperature instability (NBTI) recovery with bake
    KATSETOS, Anastasios A
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 48 (2008), Heft 10, S. 1655-1659
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -