Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
20 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

20 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Soft Delay Error Effects in CMOS Combinational Circuits : VLSI test symposium
    Gill, B. ; Papachristou, C. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2004, S. 325-334
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Sensing Temperature in CMOS Circuits for Thermal Testing : VLSI test symposium
    Altet, J. ; Rubio, A. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2004, S. 179-184
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Built-in Current Sensor for DeltaI~D~D~Q Testing of Deep Submicron Digital CMOS ICs : VLSI test symposium
    Vazquez, J. ; de Gyvez, J. P.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2004, S. 53-58
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Embedded Tutorial: Test Consideration for Nanometer Scale CMOS Circuits : VLSI test symposium
    Roy, K. ; Mak, T. M. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2003, S. 313-318
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Timed Test Generation Crosstalk Switch Failures in Domino CMOS Circuits : VLSI test symposium; (VTS 2002)
    Kundu, R. ; Blanton, R.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2002, S. 379-388
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    High-Voltage Stress Test Paradigms of Analog CMOS ICs for Gate-Oxide Reliability Enhancement : VLSI test symposium
    Khalil, M. ; Wey, C. L.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 333-338
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Average Leakage Current Estimation of CMOS Logic Circuits : VLSI test symposium
    de Gyvez, J. ; van de Wetering, E.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 375-379
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    MINVDD Testing for Weak CMOS ICs : VLSI test symposium
    Tseng, C. W. ; Chen, R. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 339-345
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Resistive Opens in a Class of CMOS Latches: Analysis and DFT : VLSI test symposium
    Zenteno, A. ; Champac, V.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 138-144
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Detection of CMOS Defects under Variable Processing Conditions : IEEE VLSI test symposium
    Germida, A. ; Plusquellic, J.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2000, S. 195-204
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Circuit-Level Dictionaries of CMOS Bridging Faults : VLSI test
    Lee, T. ; Chuang, W. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS CAD, Jg. 14, Heft 5, S. 596-602
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    On Evaluating Competing Bridge Fault Models for CMOS ICs : VLSI test
    Chess, B. ; Roth, C. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, , S. 446-451
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Analysis of I~D~D~Q Detectable Bridges in Combinational CMOS Circuits : VLSI test
    Isern, E. ; Figueras, J.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, , S. 368-373
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    CMOS Bridging Fault Modeling : VLSI test
    Renovell, M. ; Huc, P. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, , S. 392-397
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Circuit-Level Dictionaries of CMOS Bridging Faults : VLSI test
    Lee, T. ; Chuang, W. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, , S. 386-391
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Simplifying Analog Cmos Design for Undergraduates : Microelectronic systems education; MSE '03 educating tomorrows microsystems designers
    Leigh, W.
    In: IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC SYSTEMS EDUCATION, 2003, S. 156-157
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Dynamic Electrical Characterization of CMOS-Like Thin Film Transistor Circuits : Microelectronic systems education; MSE '03 educating tomorrows microsystems designers
    Gautier, G. ; Crand, S. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC SYSTEMS EDUCATION, 2003, S. 14-15
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Beyond CMOS : VLSI test symposium; (VTS 2002)
    Courtois, B. ; Forshaw, M.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2002, S. 315-316
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A PC-based Educational Tool for CMOS Integrated Circuit Design : Microelectronic systems education
    Sicard, E. ; Xi, C.
    In: IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC SYSTEMS EDUCATION, 1999, S. 47-48
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A Project Oriented Undergraduate CMOS Analog Microelectronic System Design Course : Microelectronic systems education
    Caverly, R. H.
    In: IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC SYSTEMS EDUCATION, , S. 87-88
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -