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  1. Kim, J.H. ; Rhee, P.K.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 75-84
    Konferenz
  2. Tewksbury, S.K. ; Hornak, L.A.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 135-144
    Konferenz
  3. Jalowiecki, I. ; Dearman, H. ; et al.
    In: Proceedings IEEE International Conference on Wafer Scale Integration (ICWSI), 1995, S. 22-32
    Konferenz
  4. Chen, Chienhua ; Agrawal, D.P. ; et al.
    In: [1991] Proceedings. Fourth CSI/IEEE International Symposium on VLSI Design, 1991, S. 267-272
    Konferenz
  5. Shen, Y. N. ; Lombardi, F.
    In: [1991] Proceedings, Advanced Computer Technology, Reliable Systems and Applications, CompEuro '91. Advanced Computer Technology, 1991, S. 685-689
    Konferenz
  6. Rhee, P.K. ; Kim, J.H.
    In: 1991 Proceedings, International Conference on Wafer Scale Integration, 1991, S. 134-140
    Konferenz
  7. Abujbara, H.Y. ; Al-Arian, S.A.
    In: Proceedings of the Second IEEE Symposium on Parallel and Distributed Processing 1990, 1990, S. 527-530
    Konferenz
  8. McDonald, J.F. ; Dabral, S. ; et al.
    In: 1990 Proceedings. International Conference on Wafer Scale Integration, 1990, S. 329-338
    Konferenz
  9. Habiger, C.M.
    In: 1993 Proceedings Fifth Annual IEEE International Conference on Wafer Scale Integration, 1993, S. 299-308
    Konferenz
  10. Millman, S.D.
    In: 1993 Proceedings Fifth Annual IEEE International Conference on Wafer Scale Integration, 1993, S. 279-288
    Konferenz
  11. Buonanno, G. ; Sciuto, D. ; et al.
    In: 1993 Proceedings Fifth Annual IEEE International Conference on Wafer Scale Integration, 1993, S. 193-202
    Konferenz
  12. Watanabe, A. ; Fujimoto, K. ; et al.
    In: 30th Annual Proceedings Reliability Physics 1992, 1992, S. 127-130
    Konferenz
  13. Blatt, M.
    In: 1991 Proceedings, International Conference on Wafer Scale Integration, 1991, S. 97-103
    Konferenz
  14. Kim, J.H. ; Rhee, P.K. ; et al.
    In: 1991 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 1991, S. 2140-2143
    Konferenz
  15. Bourassa, R. ; Coffman, T. ; et al.
    In: 1990 Proceedings. International Conference on Wafer Scale Integration, 1990, S. 13-19
    Konferenz
  16. Sul, C. ; McLeod, R.D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 1 (1993-06-01), Heft 2, S. 224-228
    Online academicJournal
  17. Chen, Yung-Yuan ; Upadhyaya, S.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 46 (1997-12-01), Heft 12, S. 1363-1371
    Online academicJournal
  18. Huang, W. K. ; Lombardi, F.
    In: [1989] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1989, S. 183-192
    Konferenz
  19. Ramacher, U. ; Beichter, J. ; et al.
    In: [1989] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1989, S. 309-316
    Konferenz
  20. Kuo, S. Y. ; Wang, K.
    In: [1989] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1989, S. 325-333
    Konferenz
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