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    Preparation and Characterization of ZST Films for CMOS Applications
    Sudheendran, K. ; Pamu, Dobbidi ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 117 (2010-11-11), S. 110-117
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Effect of RF power and substrate temperature on physical properties of Zr0.8Sn0.2TiO4 films by RF magnetron sputtering
    Hsu, Cheng-Shing ; Huang, Cheng-Liang ; et al.
    2001
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Structural and dielectric properties of ZnO-doped (Zr0.8Sn0.2)TiO4 films at radio frequency
    Hsu, Cheng-Shing ; Huang, Cheng-Liang ; et al.
    2003
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Material characterization of thermally evaporated ZnSn2Te4 thin films.
    Güllü, H.H.
    In: Optik - International Journal for Light & Electron Optics, Jg. 178 (2019-02-01), S. 45-50
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Effect of annealing temperatures on microstructure of (Zr<subscript>0.8</subscript>Sn<subscript>0.2</subscript>)TiO<subscript>4</subscript> thin films grown by a sol–gel process
    Yang, Ru-Yuan ; Weng, Min-Hang ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 471 (2009-03-05), Heft 1/2, S. 511-514
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Microstructure and electrical properties of (Zr, Sn)TiO<subscript>4</subscript> thin film deposited on Si(100) using a sol–gel process
    Yang, Ru-Yuan ; Su, Yan-Kuin ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 253 (2006-12-15), Heft 4, S. 2203-2207
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Structural and Dielectric Properties of ZnO-Doped (Zr 0.8 Sn 0.2 )TiO 4 Films at Radio Frequency.
    Hsu, Cheng-Shing ; Huang, Cheng-Liang
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 51 (2003), Heft 1, S. 127-136
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Preparation of Zr0.7Sn0.3TiO4Thin Films by Metal Organic Decomposition and Their Dielectric Properties
    Sun, Ho-Jung
    In: Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers, Jg. 23 (2010-04-01), S. 311-316
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Effect of annealing temperatures on microstructure of (Zr0.8Sn0.2)TiO4 thin films grown by a sol–gel process
    Ye, Chang-Sin ; Su, Yan-Kuin ; et al.
    In: Journal of Alloys and Compounds, Jg. 471 (2009-03-01), S. 511-514
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Microstructure and electrical properties of (Zr, Sn)TiO 4 thin film deposited on Si(1 0 0) using a sol–gel process
    Su, Yan-Kuin ; Yang, Ru-Yuan ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 253 (2006-12-01), S. 2203-2207
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    (Zr, Sn)TiO4 thin films for application in electronics
    Sava, F. ; Mandache, N.B. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 247 (2005-07-01), S. 169-174
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Microstructure and Optical Properties of (Zr0.8, Sn0.2)TiO4 Thin Films Grown on Si(100) Substrates by a Sol-Gel Process
    Ping Sun Qiu ; Wen Xiu Cheng ; et al.
    In: Materials Science Forum, 2005, S. 3693-3696
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Optical and dielectric properties of (Zr0.8,Sn0.2)TiO4 thin films prepared by sol–gel process
    X. Sh. Zheng ; Qiu, P. S. ; et al.
    In: Materials Science and Engineering: B, Jg. 99 (2003-05-01), S. 382-385
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Optical and dielectric properties of highly oriented (Zr0.8,Sn0.2)TiO4 thin films prepared by rf magnetron sputtering
    Qiu, P. S. ; He, X. Y. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 214 (2003-05-01), S. 136-142
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Pulse voltage induced phase change characteristics of the ZnxSbyTez phase-change prototype device
    Lu, Ronghua ; Yang, Fei ; et al.
    In: AIP Advances, Jg. 6 (2016-10-01), S. 105211-105211
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Effect of annealing temperatures on microstructure of (Zr0.8Sn0.2)TiO4 thin films grown by a sol-gel process
    Yang, Ru-Yuan ; Weng, Min-Hang ; et al.
    2009
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    The effects of post-annealing on pulse laser deposition of Zr 0.8 Sn 0.2 TiO 4 thin film on Si(100)
    Chuang, C. T. ; Weng, M. H. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2008-09-29
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Material characterization of thermally evaporated ZnSn2Te4 thin films
    Hasan Hüseyin Güllü
    In: Optik, Jg. 178 (2019-02-01), S. 45-50
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Effect of Thickness on the Structural and Electrical Properties of Sol-Gel-Derived (Zr,Sn)TiO[sub 4] Thin Films
    Yeh, Yu-Ming ; Yang, Ru-Yuan ; et al.
    In: Electrochemical and Solid-State Letters, Jg. 9 (2006), S. F31
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -