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    Conductance modification of molybdenum oxide thin films through oxygen-vacancy engineering for visible-blind ultraviolet photodetection.
    Wu, Qiang ; Wang, Rui ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 57 (2024-03-29), Heft 13, S. 1-10
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Epitaxial graphene on silicon substrates.
    Suemitsu, M. ; Fukidome, H.
    In: Journal of Physics: D Applied Physics, Jg. 43 (2010-09-22), Heft 37, S. 146-156
    Online academicJournal
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    Characterization of C54 titanium silicide thin films by spectroscopy, microscopy and diffraction.
    Bhaskaran, M. ; Sriram, S. ; et al.
    In: Journal of Physics: D Applied Physics, Jg. 40 (2007-09-07), Heft 17, S. 5213-5219
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Stress analysis of ultra-thin silicon chip-on-foil electronic assembly under bending.
    Wacker, Nicoleta ; Richter, Harald ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 29 (2014-09-01), Heft 9, S. 1-1
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Growth and optical properties of transparent CaMoO4 films by chemical solution deposition on Si and glass substrates.
    Lei, Hechang ; Zhu, Xuebin ; et al.
    In: Journal of Physics: D Applied Physics, Jg. 42 (2009-02-21), Heft 4, S. 045404-45404
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Improved piezoelectric constants of sputtered aluminium nitride thin films by pre-conditioning of the silicon surface.
    Schneider, M ; Bittner, A ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 48 (2015-10-14), Heft 40, S. 1-1
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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