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    Novel x-ray diffraction microscopy technique for measuring textured grains of thin-films. measurement by combined use of x-ray topography with x-ray diffractometry.
    XFD
    2020
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Structure of pentacene thin films.
    XFD
    2004
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Enhanced magnetic orbital moment of ultrathin Co films on Ge (100).
    XFD
    2004
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Mapping of strain fields about thin film structures using x-ray microdiffraction.
    XFD
    2003
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Atomic vibrational dynamics of thin films studied by nuclear resonant inelastic x-ray scattering : amorphous Tb{sub 1-x}Fe{sub x} alloys.
    XFD
    2003
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Characterization of CN(sub x) films by X-ray emission measurements.
    XFD
    2002
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Interface bonding for Fe thin films on GaAs surfaces of deferring morphology.
    XFD
    2001
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Connecting disorder and magnetic properties in CoFe thin films.
    XFD
    2000
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Thickness determination of metal thin films with spectroscopic ellipsometry for x-ray mirror and multilayer applications.
    XFD
    1999
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Surfaces of strongly confined polymer thin films studied by x-ray scattering.
    XFD
    1999
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -