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    Effect of LaNiO<subscript>3</subscript> electrodes and lead oxide excess on chemical solution deposition derived Pb(Zr<subscript> x </subscript>,Ti<subscript>1− x </subscript>)O<subscript>3</subscript> films
    Shturman, Itzik ; Shter, Gennady E. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009-02-27), Heft 8, S. 2767-2774
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Effect of LaNiO3 electrodes and lead oxide excess on chemical solution deposition derived Pb(Zr x ,Ti1− x )O3 films
    Shturman, Itzik ; Shter, Gennady E. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009-02-27), Heft 8, S. 2767-2774
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The microstructure, leakage current and dielectric behaviors of (Nd,Ti)-codoped BiFeO thin films: effect of deposited substrate.
    Yang, C. ; Lv, P. ; et al.
    In: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Jg. 28 (2017-02-15), Heft 4, S. 3423-3427
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Design, synthesis, microstructure and electrical properties of thermal-strained PZT films.
    Er, Xiaokuo ; Shao, Fei ; et al.
    In: Journal of the European Ceramic Society, Jg. 41 (2021-09-01), Heft 11, S. 5512-5518
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Rapid Microwave Annealing of Amorphous Lead Zirconate Titanate Thin Films Deposited by Sol-Gel Method on La NiO3/ SiO2/ Si Substrates.
    Chen, Y. N. ; Wang, Z. J. ; et al.
    In: Journal of the American Ceramic Society, Jg. 96 (2013), Heft 1, S. 90-95
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Substrate-dependent ferroelectric and dielectric properties of Mn doped Na0.5Bi0.5TiO3 thin films derived by chemical solution decomposition.
    Feng, C. ; Yang, C.H. ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 679 (2016-09-15), S. 133-137
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The role of oxygen pressure and thickness on structure and pyroelectric properties of Ba(Ti<subscript>0.85</subscript>Sn<subscript>0.15</subscript>)O<subscript>3</subscript> thin films grown by pulsed laser deposition.
    Wang, S. J. ; Lu, L. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 105 (2009-04-15), Heft 8, S. 84102-84109
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    X-ray diffraction, atomic force microscopy and raman spectroscopy studies of microstructure of BiFeO thin films on Pt/Ti/SiO/Si (111) substrates.
    Fan, Fei ; Luo, Bingcheng ; et al.
    In: Journal of Applied Spectroscopy, Jg. 80 (2013-07-01), Heft 3, S. 378-383
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Rapid Microwave Annealing of Amorphous Lead Zirconate Titanate Thin Films Deposited by Sol-Gel Method on La NiO<subscript>3</subscript>/ SiO<subscript>2</subscript>/ Si Substrates.
    Chen, Y. N. ; Wang, Z. J. ; et al.
    In: Journal of the American Ceramic Society, Jg. 96 (2013), Heft 1, S. 90-95
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Integration and electrical properties of epitaxial LiNbO<subscript>3</subscript> ferroelectric film on n-type GaN semiconductor
    Hao, Lanzhong ; Zhu, Jun ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 520 (2012-01-31), Heft 7, S. 3035-3038
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Integration and electrical properties of epitaxial LiNbO3 ferroelectric film on n-type GaN semiconductor
    Hao, Lanzhong ; Zhu, Jun ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 520 (2012-01-31), Heft 7, S. 3035-3038
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Reduced leakage current, enhanced energy storage and dielectric properties in (Ce,Mn)-codoped Ba0.6Sr0.4TiO3 thin film.
    Qian, J. ; Yang, C.H. ; et al.
    In: Ceramics International, Jg. 44 (2018-12-01), Heft 17, S. 20808-20813
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    EFFECT OF SPUTTERING WORKING PRESSURE ON MICROSTRUCTURES AND PROPERTIES OF PZT THIN FILMS.
    Zhang, X.D. ; Lin, T. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 113 (2009-11-01), Heft 1, S. 31-40
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Electro-optic properties of epitaxial Sr<subscript>0.6</subscript>Ba<subscript>0.4</subscript>Nb<subscript>2</subscript>O<subscript>6</subscript> films grown on MgO substrates using Li<subscript>x</subscript>Ni<subscript>2-x</subscript>O buffer layer.
    Li, X.T. ; Du, P.Y. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 92 (2008-08-01), Heft 2, S. 397-400
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Enhanced dielectric tunability properties of Ba(Zr<subscript> x </subscript>Ti<subscript>1−x </subscript>)O<subscript>3</subscript> thin films using seed layers on Pt/Ti/SiO<subscript>2</subscript>/Si substrates
    Zhai, Jiwei ; Gao, Cheng ; et al.
    In: Ceramics International, Jg. 34 (2008-05-01), Heft 4, S. 905-910
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Effect of LaNiO<subscript>3</subscript> electrode on microstructural and ferroelectric properties of Bi<subscript>3.25</subscript>Eu<subscript>0.75</subscript>Ti<subscript>3</subscript>O<subscript>12</subscript> thin films
    Kim, Kyoung-Tae ; Kim, Chang-Il ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-07-31), Heft 20/21, S. 8082-8086
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Effect of LaNiO3 electrode on microstructural and ferroelectric properties of Bi3.25Eu0.75Ti3O12 thin films
    Kim, Kyoung-Tae ; Kim, Chang-Il ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-07-31), Heft 20/21, S. 8082-8086
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Effects of oxygen pressure on the microstructure of LaNiO3 conductive thin film monitored by in situ reflection high energy diffraction.
    Zhu, Jun ; Zheng, Liang ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 24 (2006-11-01), Heft 6, S. 1985-1991
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Effects of oxygen pressure on the microstructure of LaNiO<subscript>3</subscript> conductive thin film monitored by in situ reflection high energy diffraction.
    Zhu, Jun ; Zheng, Liang ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 24 (2006-11-01), Heft 6, S. 1985-1991
    academicJournal
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    Microstructural and transport properties of LaNiO<subscript>3−δ</subscript> films grown on Si (111) by chemical solution deposition
    Escote, M.T. ; Pontes, F.M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 445 (2003-11-24), Heft 1, S. 54-58
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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