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    Loss Measurement of Aluminum Thin-Film Coplanar Waveguide (CPW) Lines at Microwave Frequencies.
    Ramazani, Maliheh ; Miladi, Haddad ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 8, S. 2037-2040
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    Influence of Microwave Probes on Calibrated On-Wafer Measurements.
    Phung, Gia Ngoc ; Schmuckle, Franz Josef ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 67 (2019-05-01), Heft 5, S. 1892-1900
    Online academicJournal
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    Permitivity Measurement of BA<subscript>0.5</subscript>SR<subscript>0.5</subscript>TiO<subscript>3</subscript> Ferroelectric Thin Films on Multilayered Silicon Substances.
    Wang, Zheyao ; Liu, Jianshe ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 55 (2006-02-01), Heft 1, S. 350-356
    Online academicJournal
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    Analytical Modeling of Multilayered Coplanar Waveguides Including Ferromagnetic Thin Films on Semiconductor Substrates.
    Bènevent, Evangéline ; Viala, Bernard ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 58 (2010-03-01), Heft 3, S. 645-650
    Online academicJournal
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    π-Section tunable matching network with patterned ferroelectric thin film.
    Zhang, X. Y. ; Wang, P. ; et al.
    In: Microwave & Optical Technology Letters, Jg. 50 (2008-12-01), Heft 12, S. 3251-3254
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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