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9.320 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Characterization of a 28 nm CMOS Technology for Analog Applications in High Energy Physics
    Traversi, G. ; Gaioni, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 932-940
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    A Full-Oxide CMOS Operational Amplifier Based on n-Type IGZO and p-Type SnO Thin-Film Transistors
    Zhuang, M. ; Wang, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 3691-3696
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    PSP Model-Based Emulation Method for Geometry-Dependent Cryogenic Effects in 28-nm Bulk CMOS Technology
    Yi, Seunghoon ; Joo, Hee-Cheol ; et al.
    In: 2024 International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC), 2024-01-28, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Cryogenic-Aware Forward Body Biasing in Bulk CMOS
    Overwater, R.W.J. ; Babaie, M. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 45 (2024-02-01), Heft 2, S. 152-155
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Compact Characteristic Modeling of Cryo-CMOS Transistors Based on Commercial Process Design Kit
    Jung, Seung Chae ; Joo, Hee-Cheol ; et al.
    In: 2024 International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC), 2024-01-28, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Uncooled Infrared Detection Using CMOS Transistor-Based Sensors
    He, Y. ; Liu, Y. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 24 (2024-02-01), Heft 3, S. 2445-2451
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A Novel Hybrid RF-DC Converter Using CMOS n-Well Process
    Al-Absi, M.A. ; Al-Khulaifi, A.A.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 31243-31248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Cryogenic Small Dimension Effects and Design-Oriented Scalable Compact Modeling of a 65-nm CMOS Technology
    Gatti, A. ; Tavernier, F.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 369-378
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Design of Low Noise and Micro Power Two-Stage CMOS Operational Amplifier for Cardiovascular Signal Acquisition
    Barik, Prabhat Kumar ; Ramkumar, Barathram
    In: 2023 1st International Conference on Circuits, Power and Intelligent Systems (CCPIS), 2023-09-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 0.4-V 8400-μm2 Voltage Reference in 65-nm CMOS Exploiting Well-Proximity Effect
    Che, C. ; Lei, K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 3822-3826
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Overview of methodologies for initial design of CMOS integrated circuits in deep submicron processes in different regions of inversion
    Radev, Aleksandar Petkov
    In: 2023 XXXII International Scientific Conference Electronics (ET), 2023-09-13, S. 1-6
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A 7-10b Programmable Cryo-CMOS TI-SAR ADC for Multichannel Qubit Readout with On-Chip Background Inter-Channel Mismatch Calibrations
    Lee, Jaeho ; Kang, Kiseo ; et al.
    In: ESSCIRC 2023- IEEE 49th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), 2023-09-11, S. 169-172
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A High-PCE Range-Extension CMOS Rectifier Employing Advanced Topology Amalgamation Technique for Ambient RF Energy Harvesting
    Choo, A. ; Lee, Y.C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 3747-3751
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Reconfigurable ferroelectric hafnium oxide FeFET fabricated in 28 nm CMOS technology for mmWave applications
    Abdulazhanov, Sukhrob ; Le, Quang Huy ; et al.
    In: ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023-09-11, S. 113-116
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Cryogenic CMOS as an Enabler for Low Power Dynamic Logic
    Saligram, Rakshith ; Datta, Suman ; et al.
    In: 2023 IEEE/ACM International Symposium on Low Power Electronics and Design (ISLPED), 2023-08-07, S. 1-6
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Study on optimization of image lag process based on 4T CMOS image sensor
    Zhang, Kai ; Li, Ting ; et al.
    In: 2023 IEEE 3rd International Conference on Information Technology, Big Data and Artificial Intelligence (ICIBA), Jg. 3 (2023-05-26), S. 846-850
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A CMOS Threshold Voltage Monitoring Sensor
    Moustakas, Konstantinos ; Gogolou, Vasiliki ; et al.
    In: 2023 12th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies (MOCAST), 2023-06-28, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    High-Efficiency CMOS Rectifier Circuit for UHF RFID Using Threshold Voltage Compensation Technique
    Zhang, Hejiu ; Che, Wenxin ; et al.
    In: 2023 6th International Conference on Electronics Technology (ICET), 2023-05-12, S. 85-89
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Exploration of Ternary Logic Using T-CMOS for Circuit-Level Design
    Ko, J. ; Kim, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 70 (2023-09-01), Heft 9, S. 3612-3624
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A 11-ns, 3.85-fJ, Deep Sub-threshold, Energy Efficient Level Shifter in 65-nm CMOS
    Balaji, Rathod ; Siddharth, R.K. ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2023-05-21, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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