Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
7 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Sprache

7 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Investigation of Low Dose Rate and Bias Conditions on the Total Dose Tolerance of a CMOS Flash-Based FPGA.
    Rezgui, Sana ; Wilcox, Edward P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 134-143
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Negative Bias Temperature Instability Effect on the Single Event Transient Sensitivity of a 65 nm CMOS Technology.
    Moukhtari, I. El ; Pouget, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-07-01), Heft 4, S. 2635-2639
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Impact of Process Variations and Charge Sharing on the Single-Event-Upset Response of Flip-Flops.
    Kauppila, A. V. ; Bhuva, B. L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-12-01), Heft 6, S. 2658-2663
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Effect of Device Variants in 32 nm and 45 nm SOI on SET Pulse Distributions.
    Maharrey, J. A. ; Quinn, R. C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), Heft 6, S. 4399-4404
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Effect of Negative Bias Temperature Instability on the Single Event Upset Response of 40 nm Flip-Flops.
    Kauppila, Amy V. ; Bhuva, Bharat L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 6, S. 2651-2657
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Understanding the Key Parameter Dependences Influencing the Soft-Error Susceptibility of Standard Combinational Logic.
    Pande, Nakul ; Kumar, Saurabh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-02-01), Heft 2, S. 116-125
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Heavy-Ion Induced Threshold Voltage Tails in Floating Gate Arrays.
    Gerardin, Simone ; Bagatin, Marta ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-12-01), Heft 6, S. 3199-3205
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -