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  1. RAJAEI, Ramin ; TABANDEH, Mahmoud ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 6, S. 912-924
    academicJournal
  2. NAVI, Keivan ; MAEEN, Mehrdad ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 42 (2009), Heft 4, S. 457-467
    academicJournal
  3. BRAJESH KUMAR, KAUSHIK ; SARKAR, Sankar ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 2-3, S. 85-92
    academicJournal
  4. MOISEEV, Konstantin ; WIMER, Shmuel ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 48 (2015), S. 116-128
    academicJournal
  5. SCHOLZE, Stefan ; EISENREICH, Holger ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 45 (2012), Heft 1, S. 61-75
    academicJournal
  6. ALIOTO, Massimo ; BADEL, Stéphane ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 10, S. 669-679
    academicJournal
  7. MOHAMMAD MOGHADDAM, TABRIZI ; MASOUMI, Nasser
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 10, S. 1487-1495
    academicJournal
  8. GORGIN, Saeid ; JABERIPUR, Ghassem
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 10, S. 1471-1481
    academicJournal
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sm 576 - 768
md 768 - 992
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