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In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 6, S. 912-924academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 42 (2009), Heft 4, S. 457-467academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 2-3, S. 85-92academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 48 (2015), S. 116-128academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 45 (2012), Heft 1, S. 61-75academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 10, S. 669-679academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 10, S. 1487-1495academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 10, S. 1471-1481academicJournalZugriff: