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    22 μW, 5.1 ps LSB, 5.5 ps RMS jitter Vernier time‐to‐digital converter in CMOS 65 nm for single photon avalanche diode array.
    Nolet, F. ; Roy, N. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 56 (2020-04-01), Heft 9, S. 424-426
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    22 μW, 5.1 ps LSB, 5.5 ps RMS jitter Vernier time-to-digital converter in CMOS 65 nm for single photon avalanche diode array.
    Nolet, F. ; Roy, N. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 56 (2020-04-30), Heft 9, S. 424-426
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Small area 0.3 pJ/conv, 45 ps time‐to‐digital converter for arrays of silicon photomultiplier interfaces in 150 nm CMOS.
    Perenzoni, M. ; Xu, H. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 51 (2015-11-01), Heft 24, S. 1933-1935
    Online academicJournal
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    Highly digital 1 GS/s 7-bit PWM ADC in 65 nm CMOS using time-domain quantisation.
    Saha, A. ; Harjani, R.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 54 (2018-10-18), Heft 21, S. 1204-1205
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Small area 0.3 pJ/conv, 45 ps time-to-digital converter for arrays of silicon photomultiplier interfaces in 150 nm CMOS.
    Perenzoni, M. ; Xu, H. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 51 (2015-11-05), Heft 23, S. 1933-1934
    Online academicJournal
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    Full Text Finder (Volltext)
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    Power‐jitter trade‐off analysis in digital‐to‐time converters.
    Santiccioli, A. ; Samori, C. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 53 (2017-03-01), Heft 5, S. 306-308
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Low‐power DSM‐UWB RFID‐based sensor system with low‐process sensitivity.
    Bao, Dongxuan ; Zou, Zhuo ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 53 (2017-03-01), Heft 5, S. 504-506
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    9‐bit time–digital‐converter‐assisted compressive‐sensing analogue–digital‐converter with 4 GS/s equivalent speed.
    Hu, B. ; Ren, F. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 52 (2016-03-01), Heft 5, S. 430-432
    Online academicJournal
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Histogram‐based mixed‐signal time‐to‐digital‐converter array for direct time‐of‐flight depth sensors.
    Seo, H. ; Choi, J.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 55 (2019-03-01), Heft 6, S. 310-312
    Online academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    External oscillator‐less TDC‐based all‐digital temperature sensor.
    Shimada, Hideto ; Mizuno, Kentaro
    In: Electronics & Communications in Japan, Jg. 102 (2019-05-01), Heft 5, S. 11-18
    Online academicJournal
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    Volltext (PDF)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Low‐power TDC scheme using DLL‐based gray counter for infrared imagers.
    Liu, Dahe ; Lu, Wengao ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 53 (2017-07-01), Heft 15, S. 922-924
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Duty‐cycle detector based on time‐to‐digital conversion.
    Ravezzi, L.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 49 (2013-02-01), Heft 4, S. 247-248
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Low‐power, wide‐range time‐to‐digital converter for all digital phase‐locked loops.
    Jeong, C.‐H. ; Kwon, C.‐K. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 49 (2013), Heft 1, S. 96-97
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    5 GHz all‐digital delay‐locked loop for future memory systems beyond double data rate 4 synchronous dynamic random access memory.
    Lee, Dongyeol ; Kim, Jongsun
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 51 (2015-11-01), Heft 24, S. 1973-1975
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Highly linear current‐controlled delay unit.
    Ahamed, M.R. ; Sandhu, T.S. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 51 (2015-07-01), Heft 15, S. 1157-1159
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    All‐digital PLL with ΔΣ DLL embedded TDC.
    Han, Y. ; Lin, D. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 49 (2013), Heft 1, S. 93-94
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Duty-cycle detector based on time-to-digital conversion.
    Ravezzi, L.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 49 (2013-02-14), Heft 4, S. 63-64
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Histogram-based mixed-signal time-to-digital-converter array for direct time-of-flight depth sensors.
    Seo, H. ; Choi, J.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 55 (2019-03-21), Heft 6, S. 310-311
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Low-power TDC scheme using DLL-based gray counter for infrared imagers.
    Liu, Dahe ; Lu, Wengao ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 53 (2017-07-06), Heft 14, S. 922-923
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Low-power DSM-UWB RFID-based sensor system with low-process sensitivity.
    Bao, Dongxuan ; Zou, Zhuo ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 53 (2017-03-30), Heft 7, S. 504-505
    Online academicJournal
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