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    academicJournal
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    An Accurate FDTD Model for Crosstalk Analysis of CMOS-Gate-Driven Coupled RLC Interconnects.
    Kumar, Vobulapuram Ramesh ; Kaushik, Brajesh Kumar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 56 (2014-10-01), Heft 5, S. 1185-1193
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Susceptibility of CMOS Voltage Comparators to Radio Frequency Interference.
    Fiori, Franco
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 54 (2012-05-01), Heft 2, S. 434-442
    Online academicJournal
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    Volltext
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    academicJournal
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    Corrections to “An Accurate FDTD Model for Crosstalk Analysis of CMOS-Gate-Driven Coupled RLC Interconnects”.
    Kumar, Vobulapuram Ramesh ; Kaushik, Brajesh Kumar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-12-01), Heft 6, S. 1756-1756
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    On the Susceptibility of Embedded Thermal Shutdown Circuit to Radio Frequency Interference.
    Aiello, Orazio ; Fiori, Franco
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 54 (2012-05-01), Heft 2, S. 405-412
    Online academicJournal
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    Improved Target Impedance Concept With Jitter Specification.
    Sun, Yin ; Kim, Jingook ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-08-01), Heft 4, S. 1534-1545
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Fast Transient Analysis of Next-Generation Interconnects Based on Carbon Nanotubes.
    D'Amore, Marcello ; Sarto, Maria Sabrina ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 52 (2010-05-01), Heft 2, S. 496-503
    Online academicJournal
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    Transient Electrothermal Analysis of Multilevel Interconnects in the Presence of ESD Pulses Using the Nonlinear Time-Domain Finite-Element Method.
    Shi, Yan-Bing ; Yin, Wen-Yan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 51 (2009-08-02), Heft 3, S. 774-783
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Transient Electrothermal Analysis of Multilevel Interconnects in the Presence of ESD Pulses Using the Nonlinear Time-Domain Finite-Element Method
    SHI, Yan-Bing ; YIN, Wen-Yan ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 3, S. 774-783
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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