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    (Invited) On the Potential of Lateral BJTs and SiGe HBTs in Advanced CMOS Technologies
    Koricic, Marko ; Osrecki, Zeljko ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 98 (2020-09-08), S. 111-117
    Online unknown
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    Back-End of Line Compatible Transistors for Hybrid CMOS Applications
    Liu, Po-Tsun ; Chien Min Chang ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 90 (2019-04-30), S. 135-138
    Online unknown
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    (Invited)Electrochemical Biosensors Based on CMOS LSI Chips
    Uno, Shigeyasu
    In: ECS Transactions, Jg. 85 (2018-04-10), S. 167-174
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    Three-Dimensional Integration of Fully Depleted Silicon-on-Insulator Transistor Substrates for CMOS Image Sensors Using Au/SiO2 Hybrid Bonding and XeF2 Etching
    Saraya, Takuya ; Hiramoto, Toshiro ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-14), S. 391-396
    Online unknown
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    Single-Nanowire CMOS Inverter Based on Ambipolar Si Nanowire FETs
    Richter, Curt A. ; Ioannou, Dimitris E. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 151-156
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    A Study of Stress Technology for 65nm Generic CMOS Technology
    Yu, Xing ; Lim, Louis ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 18 (2009-03-06), S. 67-70
    Online unknown
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    (Invited) Non-Planar Transistors with High-Mobility SiGe/Ge Channels for CMOS Applications
    Moriyama, Yoshihiko ; Ikeda, Keiji ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 357-366
    Online unknown
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    (Invited) Advanced FinFET Technologies: Extension Doping, Vth Controllable CMOS Inverters and SRAM
    Sakamoto, Kunihiro ; Matsukawa, Takashi ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 28 (2010-04-16), S. 385-401
    Online unknown
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    Si Nanowire CMOS Transistors and Circuits by Top-Down Technology Approach
    Fu, J. ; Balasubramanian, N. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 13 (2008-10-24), S. 201-211
    Online unknown
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    Performance Limitations of Si Bulk CMOS and Alternatives for future ULSI
    Saraswat, Krishna C. ; Pethe, Abhijit ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 8 (2007-07-20), S. 9-14
    Online unknown
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    Front-End Process Technology for hp65/45 CMOS Devices
    Nara, Yasuo ; Ootsuka, Fumio ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 2 (2006-04-28), S. 27-31
    Online unknown
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    Low-Frequency Noise Assessment of CMOS Transistors with a Through-Silicon Via
    Mercha, A. ; Claeys, Corneel ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 41 (2011-10-04), S. 385-392
    Online unknown
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    Advanced Strained-Silicon and Core-Shell Si/Si1-xGex Nanowires for CMOS Transport Enhancement
    Canonico, Michael ; Hashemi, Pouya ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 687-698
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    (Invited) Reliability and Scaling Perspectives of HfO2-Based OxRAM
    Sandrini, Jury ; Sassine, Gilbert ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 97 (2020-04-24), S. 9-15
    Online unknown
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    (Invited) Gate-All-Around Transistors Based on Vertically Stacked Si Nanowires
    Mannaert, Geert ; Ragnarsson, Lars-Ake ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 77 (2017-04-26), S. 19-30
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    (Invited) SiGe Applications in Automotive Radars
    Aufinger, K. ; Manger, Dirk ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 75 (2016-08-18), S. 91-102
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    (Invited) Integration of High-κ Dielectrics on Epitaxial (100), (110) and (111) Germanium for Multifunctional Devices
    Zhu, Yan ; Hudait, Mantu K. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 58 (2013-08-31), S. 145-151
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An Industrial 650V GaN DHEMT Cascode Technology
    Bauwens, Filip ; Liu, Charlie ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-08), S. 171-183
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    (Invited) Random Telegraph Noise: From a Device Physicist's Dream to a Designer's Nightmare
    Toledano-Luque, M. ; Simoen, Eddy ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 39 (2011-09-15), S. 3-15
    Online unknown
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    (Invited) Are Si/SiGe Tunneling Field-Effect Transistors a Good Idea?
    Solomon, Paul M. ; Haensch, Wilfried ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 357-361
    Online unknown
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