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    CMOS-compatible neuromorphic devices for neuromorphic perception and computing: a review
    Zhu, Yixin ; Mao, Huiwu ; et al.
    In: International Journal of Extreme Manufacturing, Jg. 5 (2023), Heft 4, S. 042010-42010
    Online academicJournal
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    Neutron induced noise degradation of ASICs in 350 nm CMOS technology
    Yaoguang, Liu ; Ying, Zhang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-10-19), S. T10005
    Online unknown
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    Ambipolar carbon nanotube transistors with hybrid nanodielectric for low-voltage cmos-like electronics
    Portilla, L ; Zhao, J ; et al.
    2021
    Online unknown
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    Low quiescent current capacitor-less LDO regulator with high slew rate super class AB CMOS OTA
    Huang, Shengming ; Ni, Peng ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 1550 (2020-05-01), S. 052022-52022
    Online unknown
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    CMOS-compatible GaN-on-Si HEMTs with cut-off frequency of 210 GHz and high Johnson’s figure-of-merit of 8.8 THz V
    Geok Ing Ng ; Kenneth Eng Kian Lee ; et al.
    In: Applied Physics Express, Jg. 13 (2020-01-10), S. 026503-26503
    Online unknown
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    MOS-based model of four-transistor CMOS image sensor pixels for photoelectric simulation
    Xue, Zhongming ; Dong, Li ; et al.
    In: Chinese Physics B, Jg. 31 (2022-04-01), S. 058503-58503
    Online unknown
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    Characterization of various Si-photodiode junction combinations and layout specialities in 0.18µm CMOS and HV-CMOS technologies
    Kraxner, A. ; Roger, Frederic ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 939 (2017-12-01), S. 012028-12028
    Online unknown
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    Ambipolar carbon nanotube transistors with hybrid nanodielectric for low-voltage CMOS-like electronics
    Pecunia, Vincenzo ; Portilla, Luis ; et al.
    In: Nano Futures, Jg. 5 (2021-05-24), S. 025001-25001
    Online unknown
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    Loss analysis and optimum design of a highly efficient and compact CMOS DC–DC converter with novel transistor layout using 60 nm multipillar-type vertical body channel MOSFET
    Endoh, Tetsuo ; Itoh, Kazuki
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-03-16), S. 04FR12
    Online unknown
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    CMOS integration of high-k/metal gate transistors in diffusion and gate replacement (D&GR) scheme for dynamic random access memory peripheral circuits
    Ercken, M. ; Thiam, A. ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-03-16), S. 04FB08
    Online unknown
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    Design trade-off between spatial resolution and power consumption in CMOS biosensor circuit based on millimeter-wave LC oscillator array
    Nakazato, Kazuo ; Niitsu, Kiichi ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-01-25), S. 03EC02
    Online unknown
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    Performance of four-terminal low-temperature polycrystalline-silicon thin-film transistors and their application in CMOS inverters on glass substrates
    Hara, Akito ; Utsumi, Hiroki ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-01-24), S. 03DB01
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    Effect of drain current on appearance probability and amplitude of random telegraph noise in low-noise CMOS image sensors
    Park, Hyeonwoo ; Suwa, Tomoyuki ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-03-14), S. 04FF08
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    CMOS micromachined probes by die-level fabrication for extracellular neural recording
    Michael S.-C. Lu ; Tseng, Fouriers ; et al.
    In: Journal of Micromechanics and Microengineering, Jg. 17 (2007-01-09), S. 283-290
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    An isolated SNM model for high-stability multi-port register file in 65 nm CMOS
    Zhang, Yuejun ; Li, Gang ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 38 (2017-09-01), S. 095002-95002
    Online unknown
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    Performance enhancement of CMOS terahertz detector by drain current *
    Liao, Yiming ; Zhang, Xingxing ; et al.
    In: Chinese Physics B, Jg. 26 (2017-08-01), S. 098401-98401
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS micromachined structures using transistors in the subthreshold region for thermal sensing
    Michael S.-C. Lu ; Liu, Dong-Hang ; et al.
    In: Journal of Micromechanics and Microengineering, Jg. 16 (2006-07-20), S. 1734-1739
    Online unknown
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    A New Sampling Scheme for High-Sensitivity, Extended-Dynamic-Range Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Imaging Pixel Sensors
    Li, Sing-Rong ; King, Ya-Chin ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 42 (2003-04-30), S. 2159-2162
    Online unknown
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    Scaling limits and reliability of SOI CMOS technology
    D E Ioannou
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 10 (2005), S. 1-6
    Online unknown
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    A highly symmetrical 10 transistor 2-read/write dual-port static random access memory bitcell design in 28 nm high-k/metal-gate planar bulk CMOS technology
    Ching Cheng Lung ; Cheng, Osbert ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-03-22), S. 04FB10
    Online unknown
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