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    Second Generation Monolithic Full-depletion Radiation Sensor with Integrated CMOS Circuitry
    2011
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    CMOS Integrated Single Electron Transistor Electrometry (CMOS-SET) circuit design for nanosecond quantum-bit read-out.
    Levy, James
    2008
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    The effect of layout topology on single-event transient pulse quenching in a 65 nm bulk CMOS process.
    Bhuva, Bharat [Vanderbilt University, Nashville, TN]
    2010
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Radiation-tolerant high-voltage CMOS/MNOS technology
    Black, Jr, W
    1978
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Gate-all-around silicon nano-wire transistors fabricated in front end CMOS process.
    Shaneyfelt, Marty
    2008
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Two CMOS memory cells suitable for the design of SEU-tolerant VLSI circuits
    Koga, R [Aerospace Corp., Los Angeles, CA (United States)]
    1994
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Enhanced total ionizing dose tolerance of bulk CMOS transistors fabricated for ultra-low power applications
    Jackson, E
    1999
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation tolerant VLSI circuits in standard deep submicron CMOS technologies for the LHC experiments: Practical design aspects
    Delmastro, M [and others]
    1999
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Overcoming scaling concerns in a radiation-hardening CMOS technology
    Haddad, N
    1999
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Industrial transfer and stabilization of a CMOS-JFET-bipolar radiation-hard analog-digital SOI technology
    Borgeaud, P [CEA-DSM-DAPNIA Saclay, Gif-sur-Yvette (France); and others]
    1999
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS IC I sub DDQ testing for the 1990s
    Hawkins, C [New Mexico Univ., Albuquerque, NM (USA). Dept. of Electrical and Computer Engineering]
    1990
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    CMOS latch-up analysis and prevention
    Shafer, B.
    1975
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Using laboratory x-ray and cobalt-60 irradiations to predict CMOS device response in strategic and space environments
    Schwank, J
    1988
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Prevention of CMOS latch-up by gold doping
    Derbenwick, G
    1976
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    An improved standard total dose test for CMOS space electronics
    Pease, R [Mission Research Corp., Albuquerque, NM (US)]
    1989
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation induced latch-up modeling of CMOS IC's
    Shafer, B
    1987
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Prompt radiation damage and short term annealing in CMOS/SOS devices
    Williams, R
    1976
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Variation in SEU sensitivity of dose-imprinted CMOS SRAMs
    Kim, H [Science System and Applications, Inc., Seabrook, MD (US)]
    1989
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation hard 1. 0. mu. m CMOS technology
    Fu, J
    1987
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Radiation-hardened CMOS/SOS standard cell circuits. Quarterly report No. 2, 3 May-3 Aug 1975
    Feller, A
    1975
    Online report
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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