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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2907-2914Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 4491-4496Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), Heft 2, S. 572-577Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 224-229Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4175-4182Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-07-01), Heft 7, S. 2917-2924Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4081-4087Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), Heft 12, S. 6592-6598Online academicJournalZugriff:
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