Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
6 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

6 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Efficient tests for CMOS VLSI circuits.
    Radhakrishnan, Damu ; Lai, Congmin
    In: International Journal of Electronics, Jg. 71 (1991-07-01), Heft 1, S. 29-43
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    An approach to crosstalk effect analysis and avoidance techniques in digital CMOS VLSI circuits.
    Anglada, R. ; Rubio, A.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 65 (1988-07-01), Heft 1, S. 9-17
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Mux Based Ultra-Low-Power Ternary Adders and Multiplier implemented with CNFET and 45 nm MOSFETs.
    Vidhyadharan, Abhay S ; Vidhyadharan, Sanjay
    In: International Journal of Electronics, Jg. 109 (2022), Heft 1, S. 58-82
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Design and analysis of low power high-speed 1-bit full adder cells for VLSI applications.
    Tirumalasetty, Venkata Rao ; Machupalli, Madhusudhan Reddy
    In: International Journal of Electronics, Jg. 106 (2019-04-01), Heft 4, S. 521-536
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A novel VLSI design of radix-4 DFT in current mode.
    Ganguly, A. ; Chakraborty, A. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 106 (2019-12-01), Heft 12, S. 1845-1863
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Testable designs of one-count generators.
    Haniotakis, Th. ; Paschalis, A. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 85 (1998-11-01), Heft 5
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -