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In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7011 (2008), Heft 1, S. 7011 1DKonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7011 (2008), Heft 1, S. 7011 1FKonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7011 (2008), Heft 1, S. 7011 0EKonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7011 (2008), Heft 1, S. 7011 0DKonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7011 (2008), Heft 1, S. 7011 0FKonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7011 (2008), Heft 1, S. 7011 0GKonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7011 (2008), Heft 1, S. 7011 0AKonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6688 (2007), S. 6688 0KKonferenzZugriff: