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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022), S. 52-55Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-06-01), Heft 6, S. 838-841Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 110-113Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 78-81Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-02-01), S. 196-199Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-07-01), S. 979-982Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022), Heft 1, S. 52-55Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-09-01), S. 1317-1320Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017), S. 44-47Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-06-01), S. 754-757Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-02-01), S. 273-276Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-08-01), S. 1301-1304Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-11-01), S. 1118-1120Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-11-01), S. 1111-1113Online unknownZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 35 (2014-04-01), S. 437-439Online unknownZugriff: