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    A Low-Power CMOS Current Reference for Piezoelectric Energy Harvesters
    Karlsen, Haakon ; Li, Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3403-3410
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    ESD Protection Design for Open-Drain Power Amplifier in CMOS Technology
    Lin, Chun-Yu ; Li, Guan-Yi
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 19 (2019-12-01), S. 782-790
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    The Effects of the External Conditions of CMOS IC Functioning on Latchup Occurrence under Uniform Laser Irradiation
    Bobrovskiy, D. V. ; Shvetsov-Shilovskiy, I. I. ; et al.
    In: 2021 IEEE 32nd International Conference on Microelectronics (MIEL), 2021-09-12
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    An Ultra Low Power CMOS MPPT Power Conditioning Circuit for Energy Harvesters
    Micallef, Joseph ; Grech, Ivan ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2020-10-01
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    Transient Voltage Suppressor (TVS) on Signal Integrity of Microelectronics System with CMOS ICs under System-Level ESD Test
    Shen, Yu-Shu ; Jiang, Hsin-Chin ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2020-07-20
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    CMOS design of the power and modulation stage for a light emitting capacitor (LEC)
    Diaz-Mendez, A. ; González-Fernández, A. A. ; et al.
    In: 2019 16th International Conference on Electrical Engineering, Computing Science and Automatic Control (CCE), 2019-09-01
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    Estimation of leakage power and delay in CMOS circuits using parametric variation
    Tanwar, Anand ; Pandey, V. S. ; et al.
    In: Perspectives in Science, Jg. 8 (2016-09-01), S. 760-763
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    Micro-Transformer-Based Integrated Digital Isolator in 180/90 nm CMOS
    Butuzov, Vladimir ; Salynsky, Nikolay ; et al.
    In: 2019 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON), 2019-04-01
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    A 128<formula formulatype='inline'><tex Notation='TeX'>$\times$</tex> </formula>96 Pixel CMOS Microdisplay Utilizing Hot Carrier Electroluminescence From Junctions in Reach Through
    Venter, Petrus J. ; Monuko du Plessis
    In: Journal of Display Technology, Jg. 10 (2014-09-01), S. 721-728
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    Low-Dynamic-Power and Low-Leakage-Power Techniques for CMOS Square-Root Circuit
    Enomoto, Tadayoshi ; Kobayashi, Nobuaki
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2009, S. 409-416
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    Monolithic 3D CMOS Using Layered Semiconductors
    He, Jr-Hau ; Zeng, Yuping ; et al.
    In: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.), Jg. 28 (2015-10-16), Heft 13
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    Pixel Level Characterization of Pinned Photodiode and Transfer Gate Physical Parameters in CMOS Image Sensors
    Pelamatti, Alice ; Estribeau, Magali ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, 2014-07-01
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    Active Electrostatic Discharge (ESD) Device for On-Chip ESD Protection in Sub-Quarter-Micron Complementary Metal-Oxide Semiconductor (CMOS) Process
    Tang Kui Tseng ; Ker, Ming-Dou
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 43 (2003-12-19), S. L33- (3S.)
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    2×VDD-tolerant ESD detection circuit in a 90-nm low-voltage CMOS process
    Liou, Juin J. ; Yang, Zhaonian ; et al.
    In: 2018 7th International Symposium on Next Generation Electronics (ISNE), 2018-05-01
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    Low voltage, low power, compact, high accuracy, high precision PTAT temperature sensor for deep sub-micron CMOS systems
    Falconi, Christian ; Trifiletti, Alessandro ; et al.
    2008
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    Dual metal gate FinFET integration by Ta/Mo diffusion technology for Vt reduction and multi-Vt CMOS application
    Sakamoto, Kunihiro ; Ishikawa, Yuki ; et al.
    In: ESSDERC 2008 - 38th European Solid-State Device Research Conference, 2008
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    Millimeter-Wave CMOS Voltage-Controlled Oscillators
    Cao, Changhua ; Seok, Eunyoung ; et al.
    In: 2007 IEEE Radio and Wireless Symposium, 2007
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A CMOS Compatible MEMS-based Voltage Multiplier for On-chip Generation of Large DC Voltages
    Yang, Yi ; Valizadeh, Pouya ; et al.
    In: 2006 Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices, 2006-12-01
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    CMOS Integrated Circuit with Improved Temperature Behavior Based on a Temperature Optimized Auto-Programmable Loop
    Popa, Cosmin
    In: EUROCON 2007 - The International Conference on "Computer as a Tool", 2007-09-01
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A new technique for imaging the logic state of passivated conductors: biased resistive contrast imaging (CMOS devices)
    Cole, E.I.
    In: 28th Annual Proceedings on Reliability Physics Symposium, 2002-12-04
    Online unknown
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