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    Nanothick Layer Transfer of Hydrogen-implanted Wafer Using Polysilicon Sacrificial Layer
    Huang, C. H. ; Chang, C. L. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 921 (2006)
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Free Standing Silicon as a Compliant Substrate for SiGe
    Cohen, Guy M. ; Chu, J. O. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 765 (2003)
    Online unknown
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    DNA Electrophoresis on Two-dimensional Arrays of SiO2 Beads
    Seo, Young-Soo ; Rafailovich, M. H. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 636 (2000)
    Online unknown
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    Optical Characterization and Process Control of Top Surface Imaging
    Hayzelden, Clive ; Chu, Dinh ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 584 (1999)
    Online unknown
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    SU-8 Processing on a Variety of Substrates
    Chiang, Yuh-Min ; Chang, Hung-Pin ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 605 (1999)
    Online unknown
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    Analysis Of Sige Fet Device Structures On Silicon-on-sapphire Substrates by X-Ray Diffraction
    Chu, J. O. ; Lagnado, I. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 533 (1998)
    Online unknown
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The Influence of Film Thickness on the Magnitude and Aging Behavior of the Transverse Piezoelectric Coefficient (d31) of PZT Thin Films
    Chu, F. ; Shepard, Joseph F. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 493 (1997)
    Online unknown
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    Synthesis of Soi Materials Using Plasma Immersion Ion Implantation
    Chu, Paul K.
    In: MRS Proceedings, Jg. 438 (1996)
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Formation of Silicon on Insulator (Soi) With Separation by Plasma Implantation of Oxygen (Spimox)
    Liu, Jingbao ; Chu, Paul K. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 354 (1994)
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Interface Characterization of PbTe/BaSi/Si Heterostructures Grown Using MBE
    Chu, T. K. ; Woody, D. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 281 (1992)
    Online unknown
    Zugriff:
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Defect Analysis of Silicon Irradiated by Pulsed Ion Beams
    Mader, S.R. ; Chu, Wei-Kan
    In: MRS Proceedings, Jg. 4 (1981)
    Online unknown
    Zugriff:
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